20aPS-26 STM による SiC 表面のグラファイト構造の観察

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概要

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• 2003-08-15

著者

• 一宮 彪彦

  名大工

• 一宮 彪彦

  名大院工

• 青山 朋弘

  名大工

• 久田 祥之

  デンソー基礎研

• 光岡 義仁

  デンソー基礎研

• 向中野 信一

  デンソー基礎研

• 鈴木 秀俊

  名大院工

• 青山 朋弘

  名大院工

• 一宮 彪彦

  名古屋大学工学部

• 鈴木 秀俊

  豊田工大

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