C-12-27 微細CMOS技術におけるSRAMセルの安定性評価(C-12. 集積回路ACD(メモリ・電源・ばらつき),一般セッション)
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概要
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- 2008-03-05
著者
-
マタウシュ ハンス
広島大学ナノデバイス・バイオ融合科学研究所
-
上口 光
広島大学
-
和泉 伸也
広島大学先端物質科学研究科半導体集積科学専攻
-
上口 光
広島大学ナノデバイス・システム研究センター
-
マタウシュ ハンス
広島大学先端物質科学研究科半導体集積科学専攻
-
小出 哲士
広島大学先端物質科学研究科半導体集積科学専攻
-
マタウッシュ ハンス
広島大学ナノデバイス・システム研究センター
-
マタウシュ ハンスユルゲン
広島大学ナノデバイス・システム研究センター
-
小出 哲士
広島大学ナノデバイス・バイオ融合科学研究所
-
Mattausch H
広島大 ナノデバイス・バイオ融合科研
-
ユルゲン マタウシュハンス
広島大学 ナノデバイス・バイオ融合科学研究所
-
Juergen M
広島大 ナノデバイスシステム研セ
-
マタウシュ ハンス
広島大学ナノデバイス・システム研究センター
-
Mattausch Hans
広島大学大学院先端物質科学研究科 Hisim研究センター
-
小出 哲士
広島大学
-
和泉 伸也
広島大学先端物質科学研究科半導体集積科学専攻:広島大学ナノデバイス・システム研究センター
-
ハンス ユルゲン
広島大学ナノデバイス・システム研究センター
-
マタウッシュ ハンスユルゲン
広島大学ナノデバイス・システム研究センター
-
マタウシュ ハンス
広島大学大学院先端物質科学研究科
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