C-2-86 異なる減衰特性を有する配線からの漏話を考慮した実効減衰量(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般講演)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-08-29
著者
-
伊藤 浩之
東京工業大学精密工学研究所
-
益 一哉
東京工業大学
-
天川 修平
東京工業大学
-
天川 修平
東京工業大学統合研究院
-
堺 淳
日本電気株式会社ナノエレクトロニクス研究所
-
堺 淳
日本電気(株)生産技術研究所
-
富 万林
東京工業大学統合研究院
-
伊藤 浩之
東京工業大学ソリューション研究機構
-
堺 淳
日本電気(株)ナノエレクトロニクス研究所
-
伊藤 浩之
東京工業大学
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