A-3-17 オンチップ差動伝送線路のWD積による損失の評価(A-3.VLSI設計技術,一般講演)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-09-07
著者
-
岡田 健一
東京工業大学大学院理工学研究科電子物理工学専攻
-
伊藤 浩之
東京工業大学精密工学研究所
-
岡田 健一
Tokyo Inst. Of Technol. Yokohama‐shi Jpn
-
益 一哉
東京工業大学
-
岡田 健一
東京工業大学
-
木村 実人
東京工業大学統合研究院
-
富 万林
東京工業大学統合研究院
-
伊藤 浩之
東京工業大学ソリューション研究機構
-
伊藤 浩之
東京工業大学
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