C-12-45 RF CMOS低雑音増幅回路特性のプロセス世代依存性(C-12.集積回路,一般セッション)

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概要

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• 2008-09-02

著者

• 石原 昇

  東京工業大学総合研究院

• 伊藤 浩之

  東京工業大学精密工学研究所

• 益 一哉

  東京工業大学

• 天川 修平

  東京工業大学

• 天川 修平

  東京工業大学統合研究院

• 中島 智也

  東京工業大学統合研究院

• 伊藤 浩之

  東京工業大学ソリューション研究機構

• 石原 昇

  東京工業大学

• 伊藤 浩之

  東京工業大学

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