4-2 有機EL素子の発光特性に及ぼすTPD薄膜の構造特性の影響
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概要
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Surface morphology of TPD thin films has been observed by Atomic Force Microscopy (AFM). It was found that the morphology depends on significantiy the deposition rate of the TPD films, and there exist the optimum region of the deposition rate to obtain flat surface. Furthermore, it was found that maximum luminance has a close relationship to the surface morphology of TPD thin films.
- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 1997-07-29
著者
-
中西 洋一郎
静岡大学電子工学研究所
-
畑中 義式
静岡大学電子工学研究所
-
青木 徹
静岡大学電子工学研究所
-
藤波 達雄
静岡大
-
高田 健司
静岡大学電子工学研究所
-
藤波 達雄
静岡大学工学部工業化学科
-
万袋 麻希子
静岡大学電子工学研究所
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