4-4 GaP NEA素子の寿命試験
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概要
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- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 1981-06-20
著者
-
助川 徳三
静岡大学電子科学研究科・静岡大学電子工学研究所
-
菅 博文
浜松ホトニクス株式会社
-
勝野 廣宣
静岡大学電子工学研究所技術部
-
勝野 広宣
静岡大学電子工学研究所
-
菅 博文
浜松テレビ株式会社
-
金子 勝
静岡大学電子工学研究所
-
助川 徳三
静岡大学電子工学研究所
-
菅 博文
浜松ホトニクス 開発本部
-
菅 博文
浜松テレビkk
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