プリントと回路基盤近傍の磁界計測とそのEMCへの応用
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概要
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プリント回路基板近傍における磁界の計測手法として、時間軸波形計測手法と空間分布から基板内の高周波電流を推定する手法を紹介し、これらがプリント回路基板からの不要電磁波放射メカニズムの解析に有効であることを示す。時間軸波形計測では、放射が回路動作のどのタイミングで発生するかを知ることができる。また、放射源である高周波電流を把握することにより基板の問題点を明らかにできる。これらの計測手法を、簡単な回路で構成されたプリント回路基板の解析に適用する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-12-12
著者
-
原田 高志
NECシステム実装研究所
-
佐々木 英樹
Necシステム実装研究所
-
原田 高志
日本電気株式会社
-
原田 高志
日本電気株式会社システム実装研究所
-
佐々木 英樹
Necエレクトロニクス
-
佐々木 英樹
日本電気株式会社 資源環境技術研究所
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