プリント基板近傍における磁界波形の測定
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概要
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高周波電流を時間軸波形として把握することは、回路基板レベルでのEMI抑制対策をする上で有効である。高周波電流はその周囲に発生する磁界からループプローブを用いて測定でき、その波形はループプローブの出力波形と校正係数とのデコンボリューションとして求められる。我々は先に、ループプローブの簡易的な校正方法として、標準磁界発生源にマイクロストリッブ線路を用いた手法を提案した。ここでは、同手法より校正したループプローブを用いて、高周波磁界の波形測定を試みたので報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-09-26
著者
-
佐々木 英樹
Necシステム実装研究所
-
半杭 英二
日本電気株式会社
-
原田 高志
日本電気株式会社
-
原田 高志
日本電気株式会社システム実装研究所
-
原田 高志
日本電気(株)生産技術研究所
-
佐々木 英樹
Necエレクトロニクス
-
佐々木 英樹
日本電気(株)生産技術研究所EMC技術センター
-
半杭 英二
日本電気(株)
-
原田 高志
日本電気(株)システム実装研究所:東京工業大学
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