アナデジ混載システムにおけるチップ,パッケージ,ボードの微小ノイズ設計/検証技術開発(<特集>先端電子デバイスパッケージと高密度実装における評価・解析技術論文)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
近年,アナデジ混載システムにおいて,電源系,信号系のディジタルノイズがチップ,パッケージ,ボードを介してノイズに敏感なアナログブロックに伝わり,システムの特性を劣化させるケースが出てきている.特に画像処理用LSIを搭載したディジタルテレビシステムにおいては,高画質化が急激に進んでおり,例えば現状主流である10ビットADC(Analog-Digital Converter)の分解能では不足で12ビット精度のADCが必要となってきており,その際,0.24mV以下の微小ノイズに対する対策が必要になる.本論文では,今後も高精度化の要求が続くと予想されるADCを対象とし,このようなADCを搭載するアナデジ混載システムを実現するために開発したチップ,パッケージ,ボードの微小ノイズ設計/検証技術について述べる.また,本技術の妥当性を確認するために行ったTEGチップによる検証,及び実測についても述べる.不要電磁放射(EMI)問題の原因究明に広く使われている近傍磁界分布を微小ノイズ設計/検証に活用している.
- 2010-11-01
著者
-
佐々木 英樹
NECエレクトロニクス株式会社実装技術部
-
袖 美樹子
NECエレクトロニクス株式会社
-
竹内 修
NECエレクトロニクス株式会社
-
小川 隼人
NECエレクトロニクス株式会社
-
内田 浩享
NECエレクトロニクス株式会社
-
小野 光博
NECエレクトロニクス株式会社
-
佐々木 英樹
Necエレクトロニクス
関連論文
- ミックスドシグナルSOP (System-On-Package)におけるノイズ干渉メカニズムの検討(電磁界評価と干渉低減技術,次世代電子機器における先端実装技術と電磁波ノイズ低減技術論文)
- 多ピン・薄型LSI内蔵パッケージの電気特性評価 (先端電子デバイスパッケージと高密度実装における評価・解析技術論文特集)
- 多ピン・薄型LSI内蔵パッケージの電気特性評価(先端電子デバイスパッケージと高密度実装における評価・解析技術論文)
- アナデジ混載システムにおけるチップ,パッケージ,ボードの微小ノイズ設計/検証技術開発(先端電子デバイスパッケージと高密度実装における評価・解析技術論文)
- 二つのキャパシタと1本の電源配線で構成した電磁放射低減電源デカップリング回路のQFPパッケージLSIへの適用(電磁環境・EMC)
- プリント回路基板からの不要電磁放射の信号配線レイアウト依存性(回路・PCB,広帯域化するEMC技術論文)
- B-4-41 プリント回路基板における配線からのディファレンシャルモード放射とグランドプレーンからのコモンモード放射の関係
- 多層プリント回路基板層間配線からの不要電磁波放射特性
- B-4-7 スリットのあるプレーンを有する多層プリント回路基板電源供給系の解析
- B-4-2 コモンモード放射を抑えるプリント基板設計方法
- EMCJ2000-37 コモンモード放射の基板レイアウト依存性
- コモンモード放射解析のためのLSIのモデル化
- コモンモード放射解析のためのLSIのモデル化
- VLSIのためのEMI抑制デカップリング回路
- 多層プリント基板の層間配線と電源供給系の結合モデル
- ミックスドシグナルSiP (System-in-Package)に対する信号対ノイズ比測定(SiP (System in Package)技術,先端電子デバイスパッケージと高密度実装プロセス技術の最新動向論文)
- プリント回路基板近傍磁界の時間軸波形計測
- プリント基板近傍における磁界波形の測定
- BI-2-3 システム機器におけるコモンモード放射とそのメカニズム(BI-2.複合システムのノイズ問題を考える,ソサイエティ企画)
- 多層プリント回路基板電源供給系の二次元解析
- 多層プリント回路基板の電源供給プレーンにおける共振特性
- 伝送線路理論による多層プリント回路基板電源供給プレーンの共振特性の解析 (MES'98 第8回マイクロエレクトロニクスシンポジウム) -- (環境・EMC)
- プリントと回路基盤近傍の磁界計測とそのEMCへの応用
- プリントと回路基盤近傍の磁界計測とそのEMCへの応用
- 磁界波形計測によるICスイッチングノイズの測定
- 多層プリント回路基板における電源供給プレーンからの不要電磁波放射
- 基板近傍の磁界測定による高周波電流分布の推定
- 電源プレーン、グランドプレーンを内層にもつ4層基板近傍の磁界特性
- プリント回路基板近傍における高周波磁界の時間軸波形計測
- 回路近傍の磁界波形測定による不要電磁波放射源の推定
- プリント基板近傍の磁界波形測定に関する一考察
- 静電気放電による金属フレーム上での磁界波形と回路への結合
- 静電気放電による金属フレーム上の磁界強度分布
- 接触放電による金属フレーム上での磁界波形の検討
- 多ピン・薄型LSI内蔵パッケージの電気特性評価
- 多層プリント回路基板における不要電磁波放射特性