28pWP-11 走査トンネル顕微鏡によるSi(100)表面の構造操作(表面界面構造(半導体))(領域9)
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2004-03-03
著者
-
藤田 大介
物質・材料研究機構ナノ計測センター
-
小口 信行
物・材機構
-
藤田 大介
独立行政法人物質・材料研究機構ナノマテリアル研究所ナノ物性研究グループ
-
藤田 大介
物質・材料研究機構ナノマテリアル研究所
-
小口 信行
物質・材料研究機構
-
鷺坂 恵介
物質・材料研究機構
-
鷺坂 恵介
物質・材料研究機構ナノ計測センター
-
藤田 大介
物質・材料研究機構
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