藤田 大介 | 物質・材料研究機構ナノマテリアル研究所
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概要
関連著者
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藤田 大介
物質・材料研究機構ナノマテリアル研究所
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藤田 大介
物質・材料研究機構
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藤田 大介
物質・材料研究機構ナノ計測センター
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藤田 大介
独立行政法人物質・材料研究機構ナノマテリアル研究所ナノ物性研究グループ
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鷺坂 恵介
物質・材料研究機構
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鷺坂 恵介
物質・材料研究機構ナノ計測センター
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大西 桂子
物質・材料研究機構ナノ計測センター
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大木 泰造
筑波大数理物質
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大塚 洋一
筑波大物理
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大塚 洋一
筑波大物理:学際物質センター
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迫坪 行広
筑波大数理物質
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迫坪 行広
筑波大物理
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大木 泰造
筑波大物理
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安塚 周磨
阪市大院理:(現)筑波大
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宇治 進也
物質・材料研究機構
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寺倉 千恵子
産総研cerc
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小口 信行
物・材機構
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寺井 慶和
阪大院工
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寺嶋 太一
物質・材料研究機構
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小口 信行
物質・材料研究機構
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矢ヶ部 太郎
物質・材料研究機構
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寺井 慶和
物質・材料研究機構
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安塚 周磨
物質・材料研究機構
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寺倉 千恵子
物質・材料研究機構
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寺倉 千恵子
物質・材料機構
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寺嶋 太一
物質・材料機構
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宇治 進也
物質・材料機構
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池松 陽一
新日本製鐵株式会社先端技術研究所
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木戸 義勇
物材機構
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木戸 義勇
物質・材料研究機構
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平山 司
ファインセラミックスセンター
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大木 泰造
筑波大学物理学系
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木戸 義男
物質・材料研究機構
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進藤 大輔
東北大 多元研
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進藤 大輔
東北大学 多元物質科学研究所
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斎木 敏治
慶應義塾大学理工学部電子工学科
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池松 陽一
新日本製鐵(株)先端技術研究所
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斎木 敏治
慶應義塾大学 理工学部電子工学科
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原田 雅章
福岡教育大学教育学部
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平山 司
ファインセラミックスセ ナノ構造研
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熊倉 つや子
物材機構ナノマテ研
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熊倉 つや子
物質・材料研究機構ナノマテリアル研究所
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大木 泰造
物質・材料研究機構ナノマテリアル研究所
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斎木 敏治
慶應義塾大学
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原田 雅章
福岡教育大学化学教室
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マルツ ミハエル
物質・材料研究機構
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ボウラー デビッド
ユニバーシィティ・カレッジ・ロンドン
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原田 雅章
福岡教育大学
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矢ヶ部 太郎
物材機構
著作論文
- Co薄膜の低温における電気伝導特性
- 17pPSA-16 コバルト薄膜の低温強磁場下における電気伝導特性
- 原子間力顕微鏡像探針形状効果補正のための標準ナノ粒子法とブラインド・リコンストラクション法の比較
- 炭素固溶Ni(111)上におけるグラファイト(0001)テラスとカーボンナノワイヤの競合成長
- SiO_2薄膜の電子線照射支援スパッタリングのリソグラフィへの応用
- 28pWP-11 走査トンネル顕微鏡によるSi(100)表面の構造操作(表面界面構造(半導体))(領域9)
- 23aYD-1 極低温 STM を用いた Si(100) 表面の研究
- 特集「各種顕微鏡法による先端材料評価最前線」特集企画にあたって
- 19pXF-6 トンネル分光による金ナノクラスタの化学ポテンシャル計測(微粒子・クラスタ,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 30aWP-10 SAM上における金ナノクラスターの密度・粒径制御とトンネル分光測定(ナノ構造量子物性)(領域9)
- 22aYC-6 金ナノクラスターの化学ポテンシャル : サイズ依存性と環境の影響
- 極低バイアス走査トンネル顕微鏡による低次元表面観察
- アクティブ・ナノ計測技術 : 走査トンネル顕微鏡を中心として
- ナノ粒子を利用した原子間力顕微鏡像の探針先端形状効果の補正
- 24aTD-5 電界放射共鳴を用いたSi(111)表面のSTM観察(表面界面ダイナミクス,表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 表面析出による新しいカーボンナノ構造の創製
- Si(100)表面における構造操作と基底状態
- 26pXC-3 Si(100)再構成表面の電子状態とSTMイメージング(表面・界面構造(シリコン表面),領域9(表面・界面, 結晶成長))
- 低温STMによるSi(001)非対称ダイマー相の操作
- 走査トンネル顕微鏡によるナノ構造の創製と解析
- 基底状熊におけるSi(100)表面の最安定構造
- CuNi合金における固溶炭素の表面析出現象とその応用
- 25pTG-7 Si(100)表面に吸着したリン分子のSTM観察(25pTG 表面界面構造(半導体・無機化合物),領域9(表面・界面,結晶成長))