鷺坂 恵介 | 物質・材料研究機構ナノ計測センター
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概要
関連著者
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鷺坂 恵介
物質・材料研究機構
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鷺坂 恵介
物質・材料研究機構ナノ計測センター
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藤田 大介
物質・材料研究機構ナノ計測センター
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藤田 大介
物質・材料研究機構
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藤田 大介
独立行政法人物質・材料研究機構ナノマテリアル研究所ナノ物性研究グループ
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藤田 大介
物質・材料研究機構ナノマテリアル研究所
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大西 桂子
物質・材料研究機構ナノ計測センター
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大木 泰造
筑波大学物理学系
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大木 泰造
筑波大数理物質
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小口 信行
物・材機構
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小口 信行
物質・材料研究機構
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鷺坂 恵介
独立行政法人物質・材料研究機構ナノマテリアル研究所
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大西 桂子
独立行政法人物質・材料研究機構ナノ計測センター
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藤田 大介
物材機構ナノマテ研
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大西 桂子
物材機構ナノマテ研
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熊倉 つや子
物材機構ナノマテ研
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鷺坂 恵介
物材機構ナノマテ研
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マルツ ミハエル
物質・材料研究機構
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ボウラー デビッド
ユニバーシィティ・カレッジ・ロンドン
著作論文
- 27aXD-12 表面析出法により成長したグラファイト基底面上におけるカーボンナノワイヤとカーボンナノベルトの発見(ナノワイヤ・ナノチューブ,領域9(表面・界面, 結晶成長))
- 28pWP-11 走査トンネル顕微鏡によるSi(100)表面の構造操作(表面界面構造(半導体))(領域9)
- 23aYD-1 極低温 STM を用いた Si(100) 表面の研究
- 24aTD-5 電界放射共鳴を用いたSi(111)表面のSTM観察(表面界面ダイナミクス,表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 走査型トンネル顕微鏡による低次元ナノ構造の創成と計測
- Si(100)表面における構造操作と基底状態
- 極限物理場環境走査型トンネル顕微鏡の開発
- 26pXC-3 Si(100)再構成表面の電子状態とSTMイメージング(表面・界面構造(シリコン表面),領域9(表面・界面, 結晶成長))
- 低温STMによるSi(001)非対称ダイマー相の操作
- 走査トンネル顕微鏡によるナノ構造の創製と解析
- 走査トンネル顕微鏡によるナノ創製とナノ計測の融合:アクティブ・ナノ計測
- 基底状熊におけるSi(100)表面の最安定構造
- 25pTG-7 Si(100)表面に吸着したリン分子のSTM観察(25pTG 表面界面構造(半導体・無機化合物),領域9(表面・界面,結晶成長))