大西 桂子 | 物質・材料研究機構ナノ計測センター
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概要
関連著者
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大西 桂子
物質・材料研究機構ナノ計測センター
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藤田 大介
物質・材料研究機構ナノ計測センター
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藤田 大介
物質・材料研究機構
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藤田 大介
物質・材料研究機構ナノマテリアル研究所
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鷺坂 恵介
物質・材料研究機構
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鷺坂 恵介
物質・材料研究機構ナノ計測センター
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大木 泰造
筑波大数理物質
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藤田 大介
独立行政法人物質・材料研究機構ナノマテリアル研究所ナノ物性研究グループ
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大西 桂子
物材機構ナノマテ研
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熊倉 つや子
物材機構ナノマテ研
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藤田 大介
物材機構
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大木 泰造
筑波大学物理学系
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原田 雅章
福岡教育大学教育学部
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鷺坂 恵介
独立行政法人物質・材料研究機構ナノマテリアル研究所
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大西 桂子
独立行政法人物質・材料研究機構ナノ計測センター
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藤田 大介
物材機構ナノマテ研
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鷺坂 恵介
物材機構ナノマテ研
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新居 周子
物材機構
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熊倉 つや子
物質・材料研究機構ナノマテリアル研究所
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大木 泰造
物質・材料研究機構ナノマテリアル研究所
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原田 雅章
福岡教育大学化学教室
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原田 雅章
福岡教育大学
著作論文
- 原子間力顕微鏡像探針形状効果補正のための標準ナノ粒子法とブラインド・リコンストラクション法の比較
- 27aXD-12 表面析出法により成長したグラファイト基底面上におけるカーボンナノワイヤとカーボンナノベルトの発見(ナノワイヤ・ナノチューブ,領域9(表面・界面, 結晶成長))
- 原子間力顕微鏡像探針形状効果補正のための標準ナノ粒子法とブラインド・リコンストラクション法の比較
- 炭素固溶Ni(111)上におけるグラファイト(0001)テラスとカーボンナノワイヤの競合成長
- SiO_2薄膜の電子線照射支援スパッタリングのリソグラフィへの応用
- ナノ粒子を利用した原子間力顕微鏡像の探針先端形状効果の補正
- 走査型トンネル顕微鏡による低次元ナノ構造の創成と計測
- 28aWR-2 p-GaAs(110)表面からのトンネル電子誘起発光近接場計測(表面局所光学現象/表面界面ダイナミクス)(領域9)
- 走査トンネル顕微鏡によるナノ創製とナノ計測の融合:アクティブ・ナノ計測
- CuNi合金における固溶炭素の表面析出現象とその応用