STMおよびAFMを用いたナノメーターから原子スケールの構造作製
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概要
著者
-
藤田 大介
物質・材料研究機構ナノ計測センター
-
大木 泰造
筑波大数理物質
-
藤田 大介
金属材料技術研究所
-
矢ヶ部 太郎
物質・材料研究機構
-
矢ヶ部 太郎
金属材料技術研究所
-
大木 泰造
金属材料技術研究所
-
根城 均
日本IBM
-
根城 均
物質材料研究機構
-
根城 均
物質・材料研究機構ナノマテリアル研究所
-
根城 均
金材技研
-
内橋 隆
物質材料研究機構
-
Ramsperger Urs
National Institute for Materials Science
-
内橋 隆
金属材料技術研究所
-
根城 均
金属材料技術研究所
-
HANYU Sheng
金属材料技術研究所
-
URS Ramsperger
金属材料技術研究所
-
STEPHANE Odasso
金属材料技術研究所
-
DUNCAN Rogers
金属材料技術研究所
-
岡本 洋
金属材料技術研究所
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ZHEN-CHAO Dong
金属材料技術研究所
-
雨宮 克樹
金属材料技術研究所
-
惣津 寧
金属材料技術研究所
-
根城 均
新技術事業団青野原子制御表面プロジェクト
-
Sheng Hanyu
金属材料技術研究所
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