Ramsperger Urs | National Institute for Materials Science
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概要
関連著者
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Ramsperger Urs
National Institute for Materials Science
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URS Ramsperger
金属材料技術研究所
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根城 均
日本IBM
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根城 均
物質材料研究機構
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根城 均
物質・材料研究機構ナノマテリアル研究所
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根城 均
金材技研
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内橋 隆
物質材料研究機構
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根城 均
新技術事業団青野原子制御表面プロジェクト
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藤田 大介
物質・材料研究機構ナノ計測センター
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大木 泰造
筑波大数理物質
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内橋 隆
物材機構
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藤田 大介
金属材料技術研究所
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矢ヶ部 太郎
物質・材料研究機構
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矢ヶ部 太郎
金属材料技術研究所
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大木 泰造
金属材料技術研究所
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内橋 隆
物質・材料研究機構国際ナノアーキテクトニクス研究拠点
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内橋 隆
金属材料技術研究所
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根城 均
金属材料技術研究所
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HANYU Sheng
金属材料技術研究所
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STEPHANE Odasso
金属材料技術研究所
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DUNCAN Rogers
金属材料技術研究所
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岡本 洋
金属材料技術研究所
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ZHEN-CHAO Dong
金属材料技術研究所
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雨宮 克樹
金属材料技術研究所
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惣津 寧
金属材料技術研究所
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Ramsperger Urs
物質・材料研究機構
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内橋 隆
物質・材料研究機構
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Sheng Hanyu
金属材料技術研究所
著作論文
- 19aRH-8 Si(111)4x1-In 電気伝導度の温度依存性測定
- STMおよびAFMを用いたナノメーターから原子スケールの構造作製
- 31pZE-5 シングルドメイン Si(111)-4x1-In の電気伝導度測定