12a-DK-4 Si(100)表面欠陥の高温STM観察
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1993-09-20
著者
-
植杉 克弘
北海道大学電子科学研究所
-
佐藤 智重
日本電子
-
末吉 孝
日本電子
-
岩槻 正志
日本電子
-
吉村 雅満
豊田工業大学ナノハイテクリサーチセンター
-
八百 隆文
東北大学金属材料研究所
-
植杉 克弘
広大工
-
吉村 雅満
広大工
-
八百 隆文
広大工
-
佐藤 智重
日本電子(株)
-
末吉 孝
JEOL
-
植杉 克弘
北大 電子科研
-
八百 隆文
東北大 学際科学国際高等研究セ
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