高温超伝導薄膜銅線への磁束侵入とSOUIDのノイズ特性(エレクトロニクス)
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概要
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直結型高温超伝導SOUIDの遮蔽電流によって生じるノイズを調べるために、YBCO薄膜銅線に電流を印加し低周波磁束ノイズを測定した。印加電流によって銅線で磁束クリープや磁束フローが起こった後に生じる残留ノイズに加え、印加電流を除去した後に元の値に戻る可逆的なノイズも測定した。可逆的なノイズが生じる印加電流同値は銅線部で磁束クリープないし磁束フローが起こる同値より低く、銅線部の作製方法によって変化した。これら二つのノイズの低周波ノイズの発生原因について、磁束侵入と超伝導薄膜のピニングに関するモデルに基づいて考察した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-10-10
著者
-
川口 洋平
日立製作所・中央研究所
-
川口 洋平
(株)日立製作所中央研究所
-
植杉 克弘
北海道大学電子科学研究所
-
松田 端史
室蘭工業大学
-
栗城 眞也
北海道大学電子科学研究所
-
徳本 洋志
北海道大学電子科学研究所附属ナノテクノロジー研究センター
-
川口 洋平
北大電子研
-
栗城 眞也
東京電機大学先端工学研究所
-
松田 瑞史
室蘭工業大学工学部
-
栗城 眞也
北海道大学
-
川口 洋平
北海道大学電子科学研究所
-
三上 春樹
室蘭工業大学工学部
-
徳本 洋志
北海道大学電子科学研究所
-
川口 洋平
日立製作所中央研究所
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