Local Current Leakage Characterization in La_2O_3-Al_2O_3 Composite Films by Conductive Atomic Force Microscopy

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概要

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• 2005-09-13

著者

• 酒井 彰

  室蘭工大工

• 酒井 明

  京大工

• ZAIMA Shigeaki

  Graduate School of Engineering, Nagoya University

• SAKAI Akira

  Graduate School of Engineering, Nagoya University

• OGAWA Masaki

  EcoTopia Science Institute, Nagoya University

• SAKASHITA Mitsuo

  Graduate School of Engineering, Nagoya University

• Sakai A

  Department Of Crystalline Materials Science Graduate School Of Engineering Nagoya University

• Ogawa Masaki

  Ecotopia Science Institute Nagoya University

• SAGO Toshifumi

  Graduate School of Engineering, Nagoya University

• SEKO Akiyoshi

  Graduate School of Engineering, Nagoya University

• OGAWA Masaki

  Center for Cooperative Research in Advanced Science & Technology, Nagoya University

• Sakai A

  Division Of Electrical And Computer Engineering Yokohama National University

• Okada Masahisa

  Department Of Crystalline Materials Science Graduate School Of Engineering Nagoya University

• Zaima S

  Nagoya Univ. Nagoya Jpn

• Seko Akiyoshi

  Graduate School Of Engineering Nagoya University

• Sago Toshifumi

  Graduate School Of Engineering Nagoya University

• Zaima Shigeaki

  Graduate School Of Engineering Nagoya University

• Sakashita M

  Graduate School Of Engineering Nagoya University

• Sakai Akira

  Mesoscopic Materials Research Center Faculty Of Engineering Kyoto University

• Zaima Shigeaki

  Graduate School Of Eng. Nagoya Univ.

• Sakashita Mitsuo

  Graduate School of Eng., Nagoya Univ.

• Sakai Akira

  Graduate School of Engineering Science, Osaka University, 1-3 Machikaneyama-cho, Toyonaka, Osaka 560-8531, Japan

• Sakai Akira

  Graduate School of Engineering Science, Osaka University, 1-3 Machikane-cho, Toyonaka, Osaka 560-8531, Japan

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