IFVD窓構造による高出力高信頼性915nm半導体レーザ
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概要
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We have demonstrated high performance broad area single emitter lasers with window structure fabricated by newly developed impurity free vacancy disordering (IFVD) technique. Vacancies induce quantum well intermixing, leading to bandgap shift. We have succeeded in obtaining the large bandgap shift in window region and maintaining the original bandgap in gain region simultaneously. We can control the bandgap difference. A very high output power of 25.6W at 30A under pulsed operation was obtained without facet degradation. This is the one of the highest power for 100μm wide single emitter lasers. Moreover, no degradation and no sudden failure were observed for 5800 hours life test at 8W-20°C. We have, thus, realized the highest output power and high reliable lasers with window structure fabricated by IFVD.
- 社団法人 電気学会の論文
- 2008-05-01
著者
-
粕川 秋彦
古河電気工業株式会社
-
粕川 秋彦
古河電気工業(株)横浜研究所 半導体研究開発センター
-
粕川 秋彦
古河電気工業(株)ファイテルフォトニクス研究所半導体デバイス開発部
-
粕川 秋彦
古河電工
-
湊 龍一郎
古河電気工業(株)ファイテルフォトニクス研究所半導体デバイス開発部
-
谷口 英広
古河電気工業株式会社 半導体研究開発センター
-
石井 宏辰
古河電気工業株式会社 半導体研究開発センター
-
大木 泰
古河電気工業株式会社 半導体研究開発センター
-
行谷 武
古河電気工業株式会社 半導体研究開発センター
-
石井 宏辰
古河電気工業(株)ファイテルフォトニクス研究所半導体デバイス開発部
-
大木 泰
古河電気工業(株)ファイテルフォトニクス研究所半導体デバイス開発部
-
行谷 武
古河電気工業
-
行谷 武
古河電気工業(株)ファイテルフォトニクス研究所半導体デバイス開発部
-
谷口 英広
古河電気工業(株)ファイテルフォトニクス研究所半導体デバイス開発部
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