光インターコネクション向け1060nm帯面発光レーザー(VCSEL)における信頼性(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
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概要
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我々が開発を行なってきている、1060nm帯面発光レーザー(VCSEL)の高信頼性について報告を行なう。約5000素子を用いて行なった高温通電試験からは、30FIT/chという非常に小さな偶発故障率であることを確認できた。また、170℃の高温加速試験、90℃の比較的低温の通電試験から、摩耗故障においても40℃換算で300年という十分長い平均寿命を持つことが実証された。
- 2012-08-16
著者
-
石川 卓哉
古河電気工業(株)
-
舟橋 政樹
古河電気工業株式会社横浜研究所
-
粕川 秋彦
古河電気工業(株)ファイテルフォトニクス研究所半導体デバイス開発部
-
粕川 秋彦
古河電工
-
今井 英
古河電気工業(株)半導体研究開発センター
-
清水 均
古河電気工業(株)半導体研究開発センター
-
喜瀬 智文
古河電気工業株式会社横浜研究所
-
平岩 浩二
古河電気工業 (株) 半導体研究開発センター
-
神谷 慎一
古河電気工業株式会社横浜研究所信頼性グループ
-
鈴木 理仁
古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター
-
今井 英
古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター
-
舟橋 政樹
古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター
-
中村 照幸
古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター
-
石川 卓哉
古河電気工業横浜研究所信頼性グループ
-
喜瀬 智文
古河電気工業横浜研究所半導体研究開発センター
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