光インターコネクション向け1060nm帯面発光レーザー(VCSEL)における信頼性 (光エレクトロニクス)
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概要
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- 2012-08-23
著者
-
舟橋 政樹
古河電気工業株式会社横浜研究所
-
神谷 慎一
古河電気工業株式会社横浜研究所信頼性グループ
-
今井 英
古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター
-
舟橋 政樹
古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター
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