1060nm VCSELの高速変調動作と信頼性

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概要

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• 2011-12-09

著者

• 舟橋 政樹

  古河電気工業株式会社横浜研究所

• 粕川 秋彦

  古河電気工業(株)ファイテルフォトニクス研究所半導体デバイス開発部

• 今井 英

  古河電気工業(株)半導体研究開発センター

• 川北 泰雅

  古河電気工業(株)半導体研究開発センター

• 清水 均

  古河電気工業(株)半導体研究開発センター

• 喜瀬 智文

  古河電気工業株式会社横浜研究所

• 平岩 浩二

  古河電気工業 (株) 半導体研究開発センター

• 神谷 慎一

  古河電気工業株式会社横浜研究所信頼性グループ

• 鈴木 理仁

  古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター

• 川北 泰雅

  古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター

• 清水 均

  古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター

• 平岩 浩二

  古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター

• 中村 照幸

  古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター

• 喜瀬 智文

  古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター

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