清水 均 | 古河電気工業(株)半導体研究開発センター
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概要
関連著者
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清水 均
古河電気工業(株)半導体研究開発センター
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粕川 秋彦
古河電気工業(株)ファイテルフォトニクス研究所半導体デバイス開発部
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粕川 秋彦
古河電工
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今井 英
古河電気工業(株)半導体研究開発センター
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平岩 浩二
古河電気工業 (株) 半導体研究開発センター
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清水 均
古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター
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神谷 慎一
古河電気工業株式会社横浜研究所信頼性グループ
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鈴木 理仁
古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター
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舟橋 政樹
古河電気工業株式会社横浜研究所
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粕川 秋彦
古河電気工業(株)横浜研究所 半導体研究開発センター
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今井 英
古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター
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石川 卓哉
古河電気工業(株)
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喜瀬 智文
古河電気工業株式会社横浜研究所
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中村 照幸
古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター
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粕川 秋彦
古河電気工業株式会社
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舟橋 政樹
古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター
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喜瀬 智文
古河電気工業横浜研究所半導体研究開発センター
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川北 泰雅
古河電気工業(株)半導体研究開発センター
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川北 泰雅
古河電気工業(株)横浜研究所 半導体研究開発センター
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岩井 則広
古河電気工業(株)横浜研究所 半導体研究開発センター
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岩井 則広
古河電気工業株式会社
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岩井 則広
古河電気工業株式会社 横浜研究所
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築地 直樹
古河電気工業
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築地 直樹
古河電気工業(株)横浜研究所 半導体研究開発センター
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高木 啓史
古河電気工業(株)半導体研究開発センター
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熊田 浩二
古河電気工業(株)横浜研究所半導体研究開発センター
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カシミルス セティアグン
古河電気工業(株)横浜研究所半導体研究開発センター
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高木 啓史
古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター
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平岩 浩二
古河電気工業(株)半導体研究開発センター
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有賀 麻衣子
古河電気工業株式会社 横浜研究所
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影山 健生
古河電気工業(株)横浜研究所 半導体研究開発センター
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吉田 順自
古河電気工業株式会社
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濱 威
古河電工横浜研究所半導体研究センター
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有賀 麻衣子
古河電工横浜研究所半導体研究センター
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濱 威
古河電気工業株式会社横浜研究所
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影山 優生
古河電気工業(株)横浜研究所 半導体研究開発センター
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吉田 順自
古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター
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有賀 麻衣子
古河電気工業株式会社
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石川 卓哉
古河電気工業横浜研究所信頼性グループ
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高木 智洋
古河電気工業株式会社横浜研究所
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植田 菜摘
古河電気工業株式会社 横浜研究所
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池永 賀彦
古河電工横浜研究所半導体研究センター
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熊田 浩仁
古河電工横浜研究所半導体研究センター
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池永 賀彦
古河電気工業株式会社横浜研究所
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佐藤 正之
古河電気工業株式会社横浜研究所
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熊田 浩仁
古河電気工業株式会社横浜研究所
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芳賀 祥憲
古河電気工業株式会社 横浜研究所
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清水 裕
古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター
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石川 卓哉
古河電気工業株式会社横浜研究所信頼性グループ
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川北 泰雅
古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター
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高木 智洋
古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター
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平岩 浩二
古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター
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川北 泰雄
古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター
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池永 賀彦
古河電気工業株式会社ファイテル製品事業部
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喜瀬 智文
古河電気工業株式会社横浜研究所半導体研究開発センター
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神谷 慎一
古河電気工業横浜研究所信頼性グループ
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鈴木 理仁
古河電気工業横浜研究所半導体研究開発センター
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中村 照幸
古河電気工業横浜研究所半導体研究開発センター
著作論文
- 低消費電力・高効率1060nm面発光レーザ(半導体レーザ関連技術,及び一般)
- 長波長帯VCSELの開発
- SC-2-2 1300nm 帯 GaInNAsSb 系 VCSEL 及び 850nm 帯 10Gbps-VCSEL
- C-4-13 850nm 帯 VCSEL を用いた 12ch アレー
- 低閾値1.3μm帯GaInNAsSbレーザ
- 低閾値1.3μm帯GaInNAsSbレーザ
- 低閾値1.3μm帯GaInNAsSbレーザ
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- 光インターコネクション向け高信頼性1060nm帯面発光レーザにおける低電力損失特性(半導体レーザ関連技術,及び一般)
- CI-1-4 高信頼・低消費電力1060nm帯面発光レーザ(CI-1.光能動デバイス・装置を支える信頼性・安全性技術,依頼シンポジウム,ソサイエティ企画)
- 1060nm VCSELの高速変調動作と信頼性(半導体レーザ関連技術,及び一般)
- 1060nm VCSELの高速変調動作と信頼性
- 光インターコネクション向け1060nm帯面発光レーザー(VCSEL)における信頼性(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- 光インターコネクション向け1060nm帯面発光レーザー(VCSEL)における信頼性(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- 光インターコネクション向け1060nm帯面発光レーザー(VCSEL)における信頼性(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- 光インターコネクション向け1060nm帯面発光レーザー(VCSEL)における信頼性(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- 光インターコネクション向け1060nm帯面発光レーザー(VCSEL)における信頼性(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- 光インターコネクション向け1060?帯面発光レーザー(VCSEL)における信頼性
- 光インターコネクション向け1060?帯面発光レーザー(VCSEL)における信頼性