InAs積層欠陥0次元構造の電子状態の低温STS評価
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概要
著者
-
平山 祥郎
東北大理
-
山口 浩司
Ntt物性基礎研
-
山口 浩司
東京大学大学院 情報理工学系研究科
-
平山 祥郎
NTT物性基礎研
-
蟹澤 聖
NTT物性科学基礎研究所
-
山口 浩司
三菱重工業(株)
-
蟹澤 聖
Ntt物性基礎研
-
平山 祥郎
NTT物性科学基礎研
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