25aWD-7 InAs表面における二次元電子状態密度定在波の低温STM観察

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概要

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• 2000-09-10

著者

• 平山 祥郎

  東北大理

• 都倉 康弘

  NTT物性基礎研

• 山口 浩司

  Ntt物性基礎研

• 平山 祥郎

  東北大:sorst-jstf

• 山口 浩司

  三菱重工業(株)

• 蟹沢 聖

  NTT物性基礎研

• Butcher M

  NTT物性科学基礎研究所

• 平山 祥郎

  CREST

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