6H-SiC(0001)表面再構成過程のSTM・LEED研究
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概要
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- 2004-08-10
著者
-
内藤 正路
九州工業大学工学部電気工学科
-
西垣 敏
九州工業大学工学部電気工学科
-
生地 文也
九州共立大学工学部メカエレクトロニクス学科
-
遠山 尚武
九州工業大学工学部電子工学科
-
小野 拓磨
九州工業大学工学部電気工学科
-
遠山 尚武
九州工業大学工学部電気工学科
-
西垣 敏
九州工業大学大学院工学研究院
-
内藤 正路
九州工業大学大学院工学研究院
-
生地 文也
九州共立大学工学部
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