6H-SiC (0001) 再構成表面の走査トンネル顕微鏡/低速電子線回折法による解析
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概要
著者
-
内藤 正路
九州工業大学工学部電気工学科
-
西垣 敏
九州工業大学工学部電気工学科
-
生地 文也
九州共立大学工学部メカエレクトロニクス学科
-
遠山 尚武
九州工業大学工学部電子工学科
-
北田 昌俊
九州工業大学工学部電気工学科
-
遠山 尚武
九州工業大学工学部電気工学科
-
西垣 敏
九州工業大学大学院工学研究院
-
内藤 正路
九州工業大学大学院工学研究院
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生地 文也
九州共立大学工学部
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