量子ホール効果を用いた超高感度遠赤外光検出
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概要
著者
-
平川 一彦
Jst-crest:東大生研:東大ナノ量子機構
-
小宮山 進
東京大学総合文化研究科
-
川口 康
科学技術振興事業団
-
平川 一彦
東京大学生産技術研究所
-
山中 宏治
東京大学生産技術研究所
-
平川 一彦
東京大
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