碓井 彰 | Nec光・超高周波デバイス研究所
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概要
関連著者
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碓井 彰
Nec光・超高周波デバイス研究所
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碓井 彰
古河機械金属株式会社研究開発本部ナイトライド事業室
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砂川 晴夫
古河機械金属株式会社研究開発本部ナイトライド事業室
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山口 敦史
金沢工大 ものづくり研
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碓井 彰
古河機械金属
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砂川 晴夫
古河機械金属 ナイトライド事業室
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山口 敦史
金沢工業大学 ものづくり研究所
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石原 裕次郎
古河機械金属
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笹岡 千秋
Nec光・無線デバイス研究所
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碓井 彰
日本電気(株)基礎研究所
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砂川 晴夫
古河機械金属(株)半導体装置事業室
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石原 裕次郎
古河機械金属ナイトライド事業室
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松枝 敏晴
古河機械金属 ナイトライド事業室
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松枝 敏晴
古河機械金属株式会社
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碓井 彰
NEC光・無線デバイス研究所
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松枝 敏晴
古河機械金属(株)半導体装置事業室
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松枝 敏晴
古河機械金属株式会社ナイトライド事業室
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耿 慧遠
古河機械金属(株)素材総合研究所
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耿 慧遠
古河機械金属株式会社研究開発本部ナイトライド事業室
-
耿 慧遠
古河機械金属 ナイトライド事業室
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酒井 朗
Nec基礎研究所
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倉本 大
NEC光・無線デバイス研究所
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木村 明隆
NEC光・無線デバイス研究所
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砂川 晴夫
NEC光・無線デバイス研究所
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水田 正志
Nec光・無線デバイス研究所
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笹岡 千秋
NEC光・超高周波デバイス研究所
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仁道 正明
NEC光・無線デバイス研究所
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小林 憲司
日本電気(株)基礎研究所
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山口 敦史
NEC光・無線デバイス研究所
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風田川 統之
NEC光・無線デバイス研究所
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笹岡 千秋
日本電気(株)基礎研究所
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砂川 晴夫
日本電気(株)光・無線デバイス研究所
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山口 敦史
日本電気(株)光・無線デバイス研究所
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庄子 習一
早稲田大学
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酒井 朗
名古屋大学工学研究科
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後藤 裕輝
古河機械金属株式会社ナイトライド事業室
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碓井 彰
古河機械金属株式会社ナイトライド事業室
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望月 祐志
日本電気(株)基礎研究所
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山本 一富
古河機械金属(株)日野研究所
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酒井 朗
名古屋大学
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水田 正志
Nec光・超高周波デバイス研究所
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水野 潤
早稲田大学ナノ理工学研究機構
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黒田 尚孝
Nec光・超高周波デバイス研究所
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笹岡 千秋
NEC光超高周波デバイス研究所
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砂川 晴夫
NEC光超高周波デバイス研究所
-
木村 明隆
NEC光超高周波デバイス研究所
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碓井 彰
NEC光超高周波デバイス研究所
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三田 一登
古河機械金属(株)半導体装置事業室
-
塚本 佳明
古河機械金属(株)半導体装置事業室
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柴原 資典
古河機械金属(株)半導体装置事業室
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山口 敦史
日本電気基礎研究所
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碓井 彰
日本電気基礎研究所
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塚本 佳明
古河機械金属(株)
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鷲見 紀彦
古河機械金属株式会社研究開発本部ナイトライド事業室
-
山本 一富
古河機械金属株式会社研究開発本部ナイトライド事業室
-
水野 潤
早稲田大学
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山口 敦史
金沢工業大学工学部
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岡田 愛姫子
早稲田大学ナノ理工学専攻
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篠原 秀敏
東芝機械株式会社
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西原 浩巳
東芝機械株式会社
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後藤 博史
東芝機械株式会社
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庄子 習一
早稲田大学ナノ理工学専攻
-
砂川 晴夫
古河機械金属株式会社
-
後藤 裕輝
古河機械金属株式会社
著作論文
- 量産に適した青紫色半導体レーザ(RiS-LD)の開発(進展する窒化物半導体光・電子デバイスの現状,及び一般)
- 量産に適した青紫色半導体レーザ(RiS-LD)の開発(進展する窒化物半導体光・電子デバイスの現状,及び一般)
- ハイドライドVPE,MOVPEによるGaN ELO成長(III族窒化物半導体の結晶成長はどこまで進んだか)
- III-V族化合物半導体気相成長プロセスの解明 - 実験とシミュレーション -
- ALE成長とデバイス
- GaN基板結晶成長技術の最近の進展(進展する窒化物半導体光・電子デバイスの現状,及び一般)
- GaN基板結晶成長技術の最近の進展(進展する窒化物半導体光・電子デバイスの現状、及び一般)
- 21世紀を切り開く機能性単結晶の基礎と応用(第8回)HVPE法を用いたGaN単結晶の育成
- III-V族化合物半導体エピタキシャル膜製造装置の開発
- 技術開発 青紫色GaN系レーザダイオード (ストレージソリューション技術特集)
- 22aB7 FIELO技術を用いたGaN結晶の低転位化(気相成長II)
- [hhk]方向を向く量子細線における光学的異方性
- GaN選択横方向成長による転位密度の低減
- 塩化物原料を用いた3-5族化合物半導体の原子層エピタキシ-
- 原子層制御エピタキシー
- ハイドライド気相成長法による高品質GaN結晶の育成
- 顕微反射スペクトル測定によるGaN基板残留歪みの精密マッピング測定(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,関連技術,及び一般)
- 顕微反射スペクトル測定によるGaN基板残留歪みの精密マッピング測定(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,関連技術,及び一般)
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- UVナノインプリントによって形成したナノチャンネルFIELO法による低転位GaNテンプレート基板作製の研究(有機デバイス・酸化物デバイス・一般)