碓井 彰 | 古河機械金属

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概要

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関連著者

• 碓井 彰

  古河機械金属

• 松枝 敏晴

  古河機械金属 ナイトライド事業室

• 碓井 彰

  古河機械金属株式会社ナイトライド事業室

• 砂川 晴夫

  古河機械金属 ナイトライド事業室

• 松枝 敏晴

  古河機械金属株式会社

• 山口 敦史

  金沢工業大学 ものづくり研究所

• 石原 裕次郎

  古河機械金属

• 松枝 敏晴

  古河機械金属(株)半導体装置事業室

• 松枝 敏晴

  古河機械金属株式会社ナイトライド事業室

• 耿 慧遠

  古河機械金属 ナイトライド事業室

• 碓井 彰

  Nec光・超高周波デバイス研究所

• 耿 慧遠

  古河機械金属(株)素材総合研究所

• 碓井 彰

  古河機械金属株式会社 ナイトライド事業室

• 石原 裕次郎

  古河機械金属ナイトライド事業室

• 砂川 晴夫

  古河機械金属(株)半導体装置事業室

• 碓井 彰

  古河機械金属株式会社

• 砂川 晴夫

  古河機械金属株式会社研究開発本部ナイトライド事業室

• 碓井 彰

  古河機械金属株式会社研究開発本部ナイトライド事業室

• 後藤 裕輝

  古河機械金属株式会社ナイトライド事業室

• 河合 弘治

  株式会社パウデック

• 住田 行常

  株式会社パウデック

• 八木 修一

  株式会社パウデック

• 平田 祥子

  株式会社パウデック

• 別所 公博

  株式会社パウデック

• 山口 敦史

  金沢工大 ものづくり研

• 耿 慧遠

  古河機械金属株式会社研究開発本部ナイトライド事業室

• 佐々木 斉

  古河機械金属株式会社ナイトライド事業室

• 後藤 裕輝

  古河機械金属株式会社

• 萩原 政幸

  阪大極限セ

• 庄子 習一

  早稲田大学

• 柏木 隆成

  筑波大数理物質

• 山口 博則

  阪大極限セ

• 八代 晴彦

  Jstさきがけ

• 八代 晴彦

  阪大極限セ

• 園田 早紀

  阪大院基礎工

• 赤坂 洋一

  阪大院基礎工

• 柏木 隆成

  阪大極限セ

• 山本 一富

  古河機械金属(株)日野研究所

• 水野 潤

  早稲田大学ナノ理工学研究機構

• 園田 早紀

  京工繊工芸

• 三田 一登

  古河機械金属(株)半導体装置事業室

• 塚本 佳明

  古河機械金属(株)半導体装置事業室

• 柴原 資典

  古河機械金属(株)半導体装置事業室

• 塚本 佳明

  古河機械金属(株)

• 柏木 隆成

  筑波大工

• 鷲見 紀彦

  古河機械金属株式会社研究開発本部ナイトライド事業室

• 砂川 晴夫

  古河機械金属ナイトライド事業室

• 碓井 彰

  古河機械金属 ナイトライド事業室

• 碓井 彰

  古河機械金属ナイトライド事業室

• 耿 慧遠

  古河機械金属ナイトライド事業室

• 山口 敦史

  金沢工業大学 光電相互変換デバイスシステムR&Dセンター

• 山本 一富

  古河機械金属株式会社研究開発本部ナイトライド事業室

• 水野 潤

  早稲田大学

• 山口 敦史

  金沢工業大学工学部

• 岡田 愛姫子

  早稲田大学ナノ理工学専攻

• 篠原 秀敏

  東芝機械株式会社

• 西原 浩巳

  東芝機械株式会社

• 後藤 博史

  東芝機械株式会社

• 庄子 習一

  早稲田大学ナノ理工学専攻

• 砂川 晴夫

  古河機械金属株式会社

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著作論文

• HVPE法によるm面サファイヤ基板上{11-22}面GaN結晶の作製(窒化物及び混晶半導体デバイス)
• HVPE法によるm面サファイヤ基板上{11-22}面GaN結晶の作製(窒化物及び混晶半導体デバイス)
• HVPE法によるm面サファイヤ基板上{11-22}面GaN結晶の作製(窒化物及び混晶半導体デバイス)
• 22pPSA-64 FeをドープしたGaN薄膜のESR(領域4ポスターセッション,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
• GaN自立基板を用いた縦型ダイオード(窒化物及び混晶半導体デバイス)
• GaN自立基板を用いた縦型ダイオード(窒化物及び混晶半導体デバイス)
• GaN自立基板を用いた縦型ダイオード(窒化物及び混晶半導体デバイス)
• III-V族化合物半導体エピタキシャル膜製造装置の開発
• III族窒化物半導体結晶の進展(第5章 最近10年の結晶成長の動き,日本結晶成長学会創立30周年記念)
• GaN自立基板を用いた縦型ダイオード
• ハイドライド気相成長法による高品質GaN結晶の育成
• 顕微反射スペクトル測定によるGaN基板残留歪みの精密マッピング測定(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,関連技術,及び一般)
• 顕微反射スペクトル測定によるGaN基板残留歪みの精密マッピング測定(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,関連技術,及び一般)
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• 顕微反射スペクトル測定によるGaN基板残留歪みの精密マッピング測定
• 顕微反射スペクトル測定によるGaN基板残留歪みの精密マッピング測定
• 顕微反射スペクトル測定によるGaN基板残留歪みの精密マッピング測定
• UVナノインプリントによって形成したナノチャンネルFIELO法による低転位GaNテンプレート基板作製の研究(有機デバイス・酸化物デバイス・一般)

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