山口 章 | 住友電気工業(株)半導体技術研究所

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• 山口 章

  住友電気工業(株)半導体技術研究所

• 山口 章

  住友電気工業

• 山口 章

  住友電気工業(株)オプトエレクトロニクス研究所

• 山口 章

  住友電気工業株式会社オプトエレクトロニクス研究所

• 中西 裕美

  住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所

• 加藤 隆志

  住友電気工業株式会社 伝送デバイス研究所

• 中西 裕美

  住友電気工業(株)オプトエレクトロニクス研究所

• 山林 直之

  光インターコネクション住電研究室, RWCP

• 山林 直之

  光インターコネクション住電研究室 Rwcp

• 山口 章

  住友電気工業(株)伊丹製作所

• 勝山 造

  住友電気工業(株)伝送デバイス研究所

• 勝山 造

  住友電工(株)伝送デバイス研究所

• 岡田 毅

  住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所

• 勝山 造

  住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所

• 橋本 順一

  住友電気工業(株)オプトエレクトロニクス研究所

• 市川 弘之

  住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所

• 浜田 耕太郎

  住友電気工業株式会社解析技術研究センター

• 中林 隆志

  住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所

• 佐々木 吾朗

  住友電気工業(株)オプトエレクトロニクス研究所

• 平山 憲司

  住友電気工業株式会社オプトエレクトロニクス研究所

• 市川 弘之

  住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所:住友電気工業株式会社解析技術研究センター

• 市川 弘之

  住友電気工業 伝送デバイス研

• 橋本 順一

  財団法人光産業技術振興協会:住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所

• 中西 裕美

  オプトエレクトロニクス研究所住友電気工業株式会社

• 山口 章

  オプトエレクトロニクス研究所住友電気工業株式会社

• 吉田 和宣

  フォト・エレクトロン事業部

• 加藤 隆志

  住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所

• 山林 直之

  住友電気工業(株)オプトエレクトロニクス研究所

• 加藤 隆志

  住友電気工業(株)

• 加藤 隆志

  住友電気工業

• 岡田 毅

  住友電気工業(株)オプトエレクトロニクス研究所

• 勝山 造

  住友電気工業(株)オプトエレクトロニクス研究所

• 高橋 成治

  住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所

• 高橋 成治

  住友電気工業(株)オプトエレクトロニクス研究所

• 伊東 雅史

  住友電気工業(株)横浜製作所

• 吉田 和宣

  フォト・エレクトロン事業部住友電気工業株式会社

• 平山 憲司

  住友電気工業(株)オプトエレクトロニクス研究所

• 伊東 雅史

  住友電気工業株式会社光伝送デバイス事業部

• 伊東 雅史

  住友電気工業

• 勝山 造

  住友電気工業

• 工原 美樹

  住友電気工業株式会社オプトエレクトロニクス研究所

• 工原 美樹

  住友電気工業(株)オプトエレクトロニクス研究所

• 福田 智恵

  住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所

• 勝山 造

  オプトエレクトロニクス研究所住友電気工業株式会社

• 山林 直之

  オプトエレクトロニクス研究所住友電気工業株式会社

• 吉田 和宣

  住友電気工業株式会社フォト・エレクトロン事業部

• 北山 賢一

  住友電気工業株式会社オプトエレクトロニクス研究所

• 橋本 順一

  光インターコネクション住電研究室, RWCP

• 加藤 隆志

  光インターコネクション住電研究室, RWCP

• 佐々木 吾朗

  光インターコネクション住電研究室, RWCP

• 北山 賢一

  住友電気工業株式会社 オプトエレクトロニクス研究所

• 岡田 毅

  オプトエレクトロニクス研究所住友電気工業株式会社

• 平山 憲司

  オプトエレクトロニクス研究所住友電気工業株式会社

• 新開 次郎

  住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所

• 福田 智恵

  住友電気工業株式会社伝送デ

• 福田 智恵

  住友電気工業(株)伝送デバイス研究所

• 松川 真治

  住友電気工業株式会社解析技術研究センター

• 佐々木 吾朗

  住友電気工業株式会社オプトエレクトロニクス研究所

• 佐々木 吾朗

  住友電気工業 オプトエレクトロニクス研

• 古米 正樹

  フォト・エレクトロン事業部 住友電気工業株式会社

• 新開 次郎

  オプトエレクトロニクス研究所

• 藤本 剛

  住友電気工業株式会社オプトエレクトロニクス研究所

• 伊藤 雅史

  住友電気工業(株)オプトエレクトロニクス研究所

• 上田 知彦

  住友電気工業株式会社

• 山口 章

  光インターコネクション住電研究室, RWCP

• 勝山 造

  光インターコネクション住電研究室, RWCP

• 藤本 剛

  住友電気工業(株)

• 猪口 康博

  住友電気工業株式会社オプトエレクトロニクス研究所

• 上田 知彦

  住友電気工業(株)横浜研究所

• 猪口 康博

  住友電気工業 オプトエレクトロニクス研

• 上田 知彦

  住友電気工業 光通信事業部 技術部

• 藤本 剛

  住友電気工業 システムエレクトロニクス研開セ

• 新開 次郎

  住友電気工業(株)オプトエレクトロニクス研究所

• 井上 亨

  住友電気工業(株)横浜研究所

• 川端 吉純

  住友電気工業(株)オプトエレクトロニクス研究所

• 柴田 俊和

  住友電気工業(株)横浜研究所

• 佐々木 吾郎

  住友電気工業(株)オプトエレクトロニクス研究所

• 小出 康夫

  京都大学大学院工学研究科材料工学専攻

• 村上 正紀

  京都大学大学院工学研究科材料工学専攻

• 佐々木 吾郎

  住友電気工業(株)

• 橋本 順一

  オプトエレクトロニクス研究所住友電気工業株式会社

• 加藤 隆志

  オプトエレクトロニクス研究所住友電気工業株式会社

• 北山 賢一

  オプトエレクトロニクス研究所住友電気工業株式会社

• 佐々木 吾朗

  オプトエレクトロニクス研究所住友電気工業株式会社

• 大西 裕

  住友電気工業(株)伝送デバイス研究所

• 細谷 俊史

  住友電気工業(株)横浜研究所

• 小山 健二

  住友電気工業(株) オプトエレクトニクス研究所

• 柴田 俊和

  住友電気工業

• 井上 亨

  住友電気工業

• 田辺 達也

  住友電気工業

• 嵯峨 宣弘

  住友電気工業(株)半導体技術研究所

• 石塚 貴司

  住友電気工業(株)半導体技術研究所

• 藤井 康祐

  住友電気工業(株)伝送デバイス研究所

• 細谷 俊史

  住友電気工業(株)

• 村上 正紀

  The Ritsumeikan Trust

• 守山 実希

  京都大学大学院工学研究科材料工学専攻

• 浅水 啓州

  京都大学大学院工学研究科材料工学専攻

• 斎藤 格

  住友電気工業株式会社フォトニクス事業部

• 小山 健二

  住友電気工業(株)伝送デバイス研究所

• 嵯峨 宣弘

  住友電気工業(株)

• 高橋 成治

  オプトエレクトロニクス研究所住友電気工業株式会社

• 藤本 剛

  オプトエレクトロニクス研究所住友電気工業株式会社

• 工原 美樹

  オプトエレクトロニクス研究所住友電気工業株式会社

• 中西 祐美

  オプトエレクトロニクス研究所 住友電気工業株式会社

• 柊平 啓

  住友電気工業(株)

• 細谷 俊史

  住友電気工業(株)光通信研究所

• 川端 吉純

  住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所

• 田辺 達也

  住友電気工業(株)半導体技術研究所

• 浅水 啓州

  Materials Department University Of California

• 仲田 博彦

  住友電気工業(株)エレクトロニクス・材料研究所

• 柊平 啓

  住友電気工業(株)研究企画部

• 細谷 俊史

  住友電気工業 光通信研

• 新開 次郎

  住友電気工業

• 嵯峨 宣弘

  住友電気工業

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著作論文

• C-3-132 1.25Gbps, 80km 伝送可能な同軸型 FGL モジュール
• GaInAsP埋込型レーザのエージングとESD耐性との関係
• GaInAsPレーザの端面活性層での光吸収による劣化機構とその抑制策
• GaInAsP/InPレーザの劣化解析技術(光部品の実装・信頼性,一般)
• InGaAsP/InPレーザの劣化解析(光部品の実装・信頼性, 一般)
• GaInAsP/InPレーザのESD劣化解析
• 1.55μm帯CWDM用無温調ファイバブラッググレーティング外部共振型半導体レーザ
• 無温調同軸型ファイバブラッググレーティング外部共振器半導体レーザ
• C-3-18 4ch-心送受信光トランシーバモジュールの開発
• C-3-14 表面実装型ファイバーグレーティングレーザモジュール
• 直線型光導波路とフィルタ付PDを用いた1.3/1.55μm光送受信モジュールの開発
• 1.55μm帯CWDM用無温調ファイバブラッググレーティング外部共振型半導体レーザ
• 1.55μm帯CWDM用無温調ファイバブラッググレーティング外部共振型半導体レーザ
• 1.55μm帯CWDM用無温調ファイバブラッググレーティング外部共振型半導体レーザ
• 無温調同軸型ファイバブラッググレーティング外部共振器半導体レーザ
• 無温調同軸型ファイバブラッググレーティング外部共振器半導体レーザ
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• SA-3-1 樹脂パッケージを用いた小型・高信頼性光アクセスデバイス
• GaInAsP/InPレーザの劣化解析技術(光部品の実装・信頼性,一般)
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• InGaAsP/InPレーザの劣化解析(光部品の実装・信頼性, 一般)
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• C-4-28 トンネル接合を用いた長波長GaInNAs-VCSELの10Gb/s動作(C-4.レーザ・量子エレクトロニクス,一般セッション)
• ED2000-102 p型InPに対する高信頼性Pd系オーミック・コンタクト材
• 4ch一心双方向光トランシーバモジュールの開発(光部品の実装,信頼性)
• 4ch一心双方向光トランシーバモジュールの開発(光部品の実装,信頼性)
• 4ch一心双方向光トランシーバモジュールの開発
• 樹脂モールドを用いた高信頼性光アクセスデバイス
• 樹脂モールドを用いた高信頼性光アクセスデバイス
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• 窒化アルミニウム原料粉末及び焼結体中の転位の観察とその形成メカニズム

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