GaInAsP埋込型レーザのエージングとESD耐性との関係
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概要
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- 2008-12-11
著者
-
山口 章
住友電気工業(株)オプトエレクトロニクス研究所
-
市川 弘之
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
浜田 耕太郎
住友電気工業株式会社解析技術研究センター
-
中林 隆志
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
山口 章
住友電気工業(株)半導体技術研究所
-
山口 章
住友電気工業(株)伊丹製作所
-
山口 章
住友電気工業
-
市川 弘之
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所:住友電気工業株式会社解析技術研究センター
-
市川 弘之
住友電気工業 伝送デバイス研
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