GaInAsP LDのESD劣化機構解析と劣化抑制技術開発
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概要
著者
-
市川 弘之
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
福田 智恵
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
伊東 雅史
住友電気工業(株)横浜製作所
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伊東 雅史
住友電気工業株式会社光伝送デバイス事業部
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市川 弘之
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所:住友電気工業株式会社解析技術研究センター
-
市川 弘之
住友電気工業 伝送デバイス研
-
福田 智恵
住友電気工業(株)伝送デバイス研究所
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