福田 智恵 | 住友電気工業株式会社伝送デ
スポンサーリンク
概要
関連著者
-
福田 智恵
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
福田 智恵
住友電気工業株式会社伝送デ
-
福田 智恵
住友電気工業(株)伝送デバイス研究所
-
市川 弘之
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
市川 弘之
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所:住友電気工業株式会社解析技術研究センター
-
市川 弘之
住友電気工業 伝送デバイス研
-
松川 真治
住友電気工業株式会社解析技術研究センター
-
浜田 耕太郎
住友電気工業株式会社解析技術研究センター
-
生駒 暢之
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
中林 隆志
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
藤井 康祐
住友電気工業(株)伝送デバイス研究所
-
生駒 暢之
住友電気工業株式会社 伝送デバイス研究所
-
大西 裕
住友電気工業(株)伝送デバイス研究所
-
大西 正志
住友電気工業(株)
-
橋本 順一
住友電気工業(株)オプトエレクトロニクス研究所
-
勝山 造
住友電気工業(株)オプトエレクトロニクス研究所
-
小山 健二
住友電気工業(株) オプトエレクトニクス研究所
-
西村 正幸
住友電気工業 横浜研
-
山田 隆史
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
辻 幸洋
住友電気工業(株)伝送デバイス研究所
-
橋本 順一
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
石塚 貴司
住友電気工業(株)半導体技術研究所
-
勝山 造
住友電気工業(株)伝送デバイス研究所
-
勝山 造
住友電気工業
-
辻 幸洋
住友電工(株)伝送デバイス研究所
-
勝山 造
住友電工(株)伝送デバイス研究所
-
小山 健二
住友電気工業(株)伝送デバイス研究所
-
福田 智恵
住友電気工業株式会社横浜研究所
-
勝山 造
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
橋本 順一
財団法人光産業技術振興協会:住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
辻 幸洋
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
大西 正志
住友電気工業
-
山口 章
住友電気工業(株)オプトエレクトロニクス研究所
-
伊東 雅史
住友電気工業(株)横浜製作所
-
柏田 智徳
住友電気工業株式会社
-
角井 素貴
住友電気工業株式会社
-
伊東 雅史
住友電気工業株式会社光伝送デバイス事業部
-
伊東 雅史
住友電気工業
-
山口 章
住友電気工業(株)半導体技術研究所
-
山口 章
住友電気工業(株)伊丹製作所
-
山口 章
住友電気工業
-
河野 直哉
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
河野 直哉
住友電気工業(株)伝送デバイス研究所
-
中里 浩二
住友電気工業
-
八木 英樹
住友電気工業(株)伝送デバイス研究所
-
田中 啓二
住友電気工業株式会社 伝送デバイス研究所
-
関 守弘
住友電気工業
-
北村 崇光
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
巽 泰三
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
板橋 直樹
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
重松 昌行
住友電気工業株式会社
-
井上 尚子
横浜国立大学・工
-
西村 正幸
住友電気工業株式会社
-
金森 弘雄
住友電気工業株式会社
-
加藤 考利
住友電気工業株式会社
-
山内 康之
住友電気工業(株)伝送デバイス研究所
-
岩井 圭子
住友電気工業株式会社オプトエレクトロニクス研究所
-
小谷野 裕史
住友電気工業株式会社
-
熊谷 安紀子
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
金森 弘雄
住友電気工業
-
加藤 考利
住友電気工業株式会社光通信研究所
-
岩井 圭子
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
熊谷 安紀子
住友電気工業株式会社 伝送デバイス研究所
-
関 守弘
住友電気工業(株)伝送デバイス研究所
-
三浦 貴光
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
渡部 徹
住友電気工業(株)伝送デバイス研究所
-
山路 和宏
住友電気工業(株)伝送デバイス研究所
-
加藤 考利
住友電気工業
-
井上 尚子
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
堀野 和彦
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
山中 慎吾
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
田中 啓二
住友電気工業株式会社伝送デ
-
荻田 省一
住友電気工業(株) 伝送デバイス研究所
-
荻田 省一
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
井上 尚子
住友電気工業(株)伝送デバイス研究所
著作論文
- AlGaInAsレーザのESD耐性(光部品の実装・信頼性,一般)
- GaInAsPレーザの端面活性層での光吸収による劣化機構とその抑制策
- GaInAsP/InPレーザの劣化解析技術(光部品の実装・信頼性,一般)
- GaInAsP/InPレーザの劣化解析技術(光部品の実装・信頼性,一般)
- GaInAsP/InPレーザの劣化解析技術(光部品の実装・信頼性,一般)
- 25-100℃、無温調GaInNAs系EA/DFBレーザ(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
- 25-100℃、無温調GaInNAs系EA/DFBレーザ(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
- 25-100℃、無温調GaInNAs系EA/DFBレーザ(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
- 25-100℃、無温調GaInNAs系EA/DFBレーザ(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
- C-4-14 GaInNAs系EA-DFBレーザの25-100℃無温調動作(C-4.レーザ・量子エレクトロニクス,一般講演)
- 端面コーティング改善によるAlGaInAsレーザの高信頼性化(超高速伝送・変復調・分散補償技術,超高速光信号処理技術,広帯域光増幅・WDM技術,受光デバイス,高光出力伝送技術,一般(ECOC報告))
- 端面コーティング改善によるAlGaInAsレーザの高信頼性化(超高速伝送・変復調・分散補償技術,超高速光信号処理技術,広帯域光増幅・WDM技術,受光デバイス,高光出力伝送技術,一般(ECOC報告))
- 端面コーティング改善によるAlGaInAsレーザの高信頼性化(超高速伝送・変復調・分散補償技術,超高速光信号処理技術,広帯域光増幅・WDM技術,受光デバイス,高光出力伝送技術,一般(ECOC報告))
- 端面発光型AlGaInAsレーザの端面応力が信頼性に及ぼす影響(半導体レーザ関連技術,及び一般)
- AlGaInAsレーザのESD耐性(光部品の実装・信頼性,一般)
- AlGaInAsレーザのESD耐性(光部品の実装・信頼性,一般)
- 分散補償ファイバ高性能化に関する検討
- ハイブリッド型Er^添加光ファイバ増幅器を用いた波長多重伝送特性の検討
- WDM光伝送用ハイブリッド型EDFAの開発
- ハイブリッドEDFAを用いたWDM伝送特性の検討
- 直接変調光送信器と分散補償ファイバを用いた2.4Gb/s長距離無中継伝送の検討
- C-4-19 部分ドープ多重量子井戸によるInP系マッハツェンダ変調器の低駆動電圧化(C-4.レーザ・量子エレクトロニクス,一般セッション)
- C-4-27 InP系変調素子とドライバICを内蔵した小型DP-QPSK変調器モジュールの低消費電力駆動(C-4.レーザ・量子エレクトロニクス)
- B-10-85 128Gbit/s-DP-QPSK小型変調器モジュール用ドライバICの開発(B-10.光通信システムB(光通信方式,光通信機器,デバイスのシステム応用,光通信網・規格))