伊部 英史 | 日立製作所生産技術研究所

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概要

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• 伊部 英史

  日立製作所生産技術研究所

• 伊部 英史

  日立 生産技研

• 新保 健一

  日立製作所生産技術研究所

• 鳥羽 忠信

  日立製作所生産技術研究所

• 伊部 英史

  日立製作所

• 新保 健一

  (株)日立製作所生産技術研究所

• 谷口 斉

  日立製作所生産技術研究所

• 矢作 保夫

  日立製作所生産技術研究所1

• 亀山 英明

  ルネサステクノロジ武蔵

• 鳥羽 忠信

  日立製作所

• 新保 健一

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• 山本 茂久

  ルネサステクノロジ北伊丹

• 山口 裕功

  日立製作所生産技術研究所1

• 浅井 秀樹

  静岡大学

• 原田 高志

  NECシステム実装研究所

• 伊部 英史

  (株)日立製作所中央研究所

• 齊藤 義行

  パナソニック(株)本社r&d部門

• 大坂 英樹

  日立製作所

• 高橋 成正

  日本IBM

• 西井 浩士

  日立製作所通信ネットワーク事業部

• 矢作 保夫

  (株)日立製作所 生産技術研究所

• 日高 光守

  エルピーダメモリ(株)

• 伊部 英史

  日立

• 秋岡 隆志

  ルネサステクノロジ武蔵

• 谷口 斉

  日立製作所

• 浅井 秀樹

  静岡大学電子科学研究科

• 齊藤 義行

  パナソニック

• 原田 高志

  Nec

• 山口 裕功

  (株)日立製作所 生産技術研究所

• CHUNG Sung

  Cisco Systems, Inc

• WEN ShiJie

  Cisco Systems, Inc

• 亀山 英明

  (株)日立製作所生産技術研究所

• 大坂 英樹

  株式会社日立製作所生産技術研究所

• 大坂 英樹

  株式会社日立製作所 生産技術研究所

• Wen Shijie

  Cisco Systems Inc

• Chung Sung

  Cisco Systems Inc

• 浅井 秀樹

  静岡大 大学院工学研究科

• 山本 茂久

  (株)ルネサステクノロジ解析技術開発部

• 松山 英也

  富士通

• 斉藤 淳

  エルピーダメモリ(株)

• 小林 一

  ソニー株式会社

• 亀山 英明

  (株)ルネサステクノロジ

• 斉藤 康幸

  (株)ルネサステクノロジ

• 秋岡 隆志

  (株)ルネサステクノロジ

• 戸坂 義春

  富士通研究所

• 小林 一

  ソニー

• 日高 光守

  (株)日立製作所生産技術研究所

• 臼木 秀樹

  ソニーセミコンダクタ九州

• 福井 正徳

  東芝

• 古田 博伺

  NECエレクトロニクス

• 片岡 文雄

  (株)日立製作所生産技術研究所

• 江藤 晃

  エルピーダメモリ(株)

• 斉藤 良和

  (株)日立製作所半導体グループ

• 片岡 文雄

  (株)日立製作所 生産技術研究所 プロセスソリューション研究部

• Chung S.

  Cisco Systems, Inc.

• Wen S.

  Cisco Systems, Inc.

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著作論文

• 招待講演 最新半導体デバイスの環境中性子線エラー--デザインルール22nmへのインパクトと対策 (集積回路)
• 招待講演 最新半導体デバイスの環境中性子線エラー--デザインルール22nmへのインパクトと対策 (電子部品・材料)
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• EMC回路設計とシステムLSIの実装設計 : 実装サイドからチップ設計への提言(EMC回路設計とシステムLSIの実装設計)
• 最新半導体デバイスの環境中性子線エラー : デザインルール22nmへのインパクトと対策(EMC回路設計とシステムLSIの実装設計)
• 情報システム装置の中性子照射試験とフィールドエラーとの相関(EMC回路設計とシステムLSIの実装設計)
• EMC回路設計とシステムLSIの実装設計 : 実装サイドからチップ設計への提言(EMC回路設計とシステムLSIの実装設計)
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• 半導体デバイス微細化に伴う中性子起因のマルチセルアップセットの多様化
• 半導体デバイス微細化に伴う中性子起因のマルチセルアップセットの多様化(ディジタル・情報家電,放送用,ゲーム機用システムLSI,回路技術(一般,超高速・低電力・高機能を目指した新アーキテクチャ))
• 進むパラダイムシフト : 半導体デバイスの宇宙線中性子エラー
• JEITAにおけるソフトエラー測定ガイドライン作成活動報告 : メモリにおけるソフトエラー測定法の標準化(新メモリ技術,メモリ応用技術,一般)
• 次世代半導体デバイススケーリングの新たな障壁 - 宇宙線中性子ソフトエラー -
• 情報システム装置の中性子照射試験とフィールドエラーとの相関
• 最新半導体デバイスの環境中性子線エラー : デザインルール22nmへのインパクトと対策
• EMC回路設計とシステムLSIの実装設計 : 実装サイドからチップ設計への提言

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