情報システム装置の中性子照射試験とフィールドエラーとの相関(EMC回路設計とシステムLSIの実装設計)
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概要
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中性子照射試験により情報システム装置のソフトエラー耐性評価を行った.メモリ構成の異なる2台の装置のソフトエラー比について,照射試験とフィールド試験の相関を確認した結果,部分照射試験でもフィールド試験と同等の結果を短時間で評価できることがわかった.また、装置の特定部位にのみ中性子を照射する部分照射試験によって,中性子に対して脆弱な部位を特定できることを確認した.
- 2009-11-25
著者
-
伊部 英史
日立製作所生産技術研究所
-
新保 健一
日立製作所生産技術研究所
-
鳥羽 忠信
日立製作所生産技術研究所
-
新保 健一
(株)日立製作所生産技術研究所
-
西井 浩士
日立製作所通信ネットワーク事業部
-
伊部 英史
日立 生産技研
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伊部 英史
日立製作所
-
鳥羽 忠信
日立製作所
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新保 健一
日立製作所
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