C-12-2 サイクルベース制御メモリテストシステムの開発(C-12.集積回路A(設計・テスト・実装技術),エレクトロニクス2)

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概要

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• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2005-09-07

著者

• 安生 一郎

  エルピーダメモリ(株)

• 平野 克典

  (株)日立製作所 生産技術研究所

• 鳥羽 忠信

  日立製作所生産技術研究所

• 菊地 修司

  (株)日立製作所生産技術研究所

• 鳥羽 忠信

  (株)日立製作所 生産技術研究所

• 其田 裕次

  (株)日立製作所 生産技術研究所

• 永野 修身

  エルピーダメモリ(株)

• 金坂 隆

  エルピーダメモリ(株)

• 和田 勇二

  日立ハイテクデーイーテクノロジー(株)

• 菊地 修司

  株式会社 日立製作所 生産技術研究所

• 菊地 修司

  (株)日立ハイテクノロジーズ

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