菊地 修司 | 株式会社 日立製作所 生産技術研究所

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関連著者

• 菊地 修司

  (株)日立製作所生産技術研究所

• 菊地 修司

  株式会社 日立製作所 生産技術研究所

• 菊地 修司

  (株)日立ハイテクノロジーズ

• 小宮 泰麿

  株式会社 日立製作所 生産技術研究所

• 嶋瀬 朗

  株式会社 ルネサステクノロジ 生産本部

• 向川 一也

  株式会社 ルネサステクノロジ 生産本部

• 安生 一郎

  エルピーダメモリ(株)

• 平野 克典

  (株)日立製作所 生産技術研究所

• 鳥羽 忠信

  日立製作所生産技術研究所

• 鳥羽 忠信

  (株)日立製作所 生産技術研究所

• 其田 裕次

  (株)日立製作所 生産技術研究所

• 永野 修身

  エルピーダメモリ(株)

• 金坂 隆

  エルピーダメモリ(株)

• 和田 勇二

  日立ハイテクデーイーテクノロジー(株)

• 松本 隆

  (株)日立製作所 日立工場

• 吉野 亮三

  日立製作所汎用コンピュータ事業部

• 須賀 卓

  (株)日立製作所生産技術研究所

• 林 良彦

  (株)日立製作所生産技術研究所

• 須賀 卓

  株式会社日立製作所生産技術研究所

• 金子 正彦

  (株)日立製作所汎用コンピュータ事業部

• 吉野 亮三

  (株)日立製作所汎用コンピュータ事業部

• 斉藤 淳

  日立コンピュータエンジニアリング(株)

• 松本 隆

  (株)日立製作所

• 松本 隆

  (株)日立製作所汎用コンピュータ事業部

• 嶋瀬 朗

  株式会社ルネサステクノロジ実装・テスト技術統括部

• 嶋瀬 朗

  (株)ルネサステクノロジ

• 小宮 泰麿

  株式会社日立製作所生産技術研究所

• 菊地 修司

  株式会社日立製作所生産技術研究所

• 向川 一也

  株式会社ルネサステクノロジ生産本部

• 菊地 修司

  日立製作所

• 小宮 泰麿

  日立製作所

• 嶋瀬 朗

  ルネサステクノロジ

• 向州 一成

  ルネサステクノロジ

• 小宮 泰麿

  (株)日立製作所 生産技術研究所 回路実装設計研究室

• 向川 一也

  (株)ルネサステクノロジ 生産本部

• 須賀 卓

  株式会社日立製作所横浜研究所生産技術センタ

• 小宮 泰麿

  株式会社日立製作所横浜研究所

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著作論文

• 666MHzLSIテストシステム
• C-12-2 小容量スクランブルメモリを用いたテストシステムの開発(C-12.集積回路A(設計・テスト・実装技術),一般講演)
• C-12-2 サイクルベース制御メモリテストシステムの開発(C-12.集積回路A(設計・テスト・実装技術),エレクトロニクス2)
• LSI断線箇所診断手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
• LSI断線箇所診断手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
• 3-3 変動電界を用いたLSI断線不良の診断(セッション3 LSIの故障解析-2)(日本信頼性学会第17回秋季信頼性シンポジウム報告)
• 3-3 変動電界を用いたLSI断線不良の診断(セッション3 LSIの故障解析(2),第17回秋季信頼性シンポジウム)

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