2.1 放射線によるソフトエラーとシステムのディペンダビリティ(第2章:放射線によるソフトエラー,<特集>ディペンダブルVLSIシステム)
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概要
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- 日本信頼性学会の論文
- 2013-12-01
著者
-
新保 健一
日立製作所生産技術研究所
-
谷口 斉
日立製作所生産技術研究所
-
鳥羽 忠信
日立製作所生産技術研究所
-
伊部 英史
日立 生産技研
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伊部 英史
日立製作所
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上薗 巧
日立製作所
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谷口 斉
日立製作所
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鳥羽 忠信
日立製作所
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新保 健一
日立製作所
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