新保 健一 | (株)日立製作所生産技術研究所
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概要
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新保 健一
日立製作所生産技術研究所
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新保 健一
(株)日立製作所生産技術研究所
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著作論文
- 非接触LSIピン電流探査手法の開発
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- 情報システム装置の中性子照射試験とフィールドエラーとの相関(EMC回路設計とシステムLSIの実装設計)
- 最新半導体デバイスの環境中性子線エラー : デザインルール22nmへのインパクトと対策(EMC回路設計とシステムLSIの実装設計)
- 情報システム装置の中性子照射試験とフィールドエラーとの相関(EMC回路設計とシステムLSIの実装設計)
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- C-12-38 追従形ゲイン制御ADC方式データアクイジションの開発(C-12.集積回路C(アナログ),一般講演)
- AT-1-1 地上の中性子ソフトエラー研究の最新動向 : 評価から対策へ(AT-1.集積回路におけるソフトエラー-測定法,回路技術,EDA-,チュートリアルセッション,ソサイエティ企画)
- 情報システム装置の中性子照射試験とフィールドエラーとの相関
- 最新半導体デバイスの環境中性子線エラー : デザインルール22nmへのインパクトと対策