小林 一 | ソニー株式会社

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概要

• 同名の論文著者
• ソニー株式会社の論文著者

関連著者

• 小林 一

  ソニー株式会社

• 小林 一

  ソニー

• 臼木 秀樹

  ソニーセミコンダクタ九州

• 永井 泰樹

  原子力機構

• 義家 敏正

  京都大学原子炉実験所

• 高久 圭二

  阪大RCNP

• 永井 泰樹

  大阪大学核物理研究センター

• 櫻井 良憲

  京都大学原子炉実験所

• 山本 茂久

  ルネサステクノロジ北伊丹

• 松山 英也

  富士通

• 石崎 敏孝

  京都大学原子炉実験所

• 伊部 英史

  日立製作所生産技術研究所

• 臼木 秀樹

  ソニー株式会社

• 白石 謙

  ソニー株式会社

• 土屋 博男

  ソニー株式会社

• 元吉 真

  ソニー株式会社

• 高久 圭二

  大阪大学核物理研究センター

• 戸坂 義春

  富士通研究所

• 伊部 英史

  日立 生産技研

• 伊部 英史

  日立

• 福井 正徳

  東芝

• 古田 博伺

  NECエレクトロニクス

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著作論文

• 宇宙線中性子によるSRAMのソフトエラー : 微細化に伴うMOSFET共通の問題(MRAM,不揮発メモリ,メモリ,一般)
• JEITAにおけるソフトエラー測定ガイドライン作成活動報告 : メモリにおけるソフトエラー測定法の標準化(新メモリ技術,メモリ応用技術,一般)

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