原田 高志 | Nec

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概要

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• Necの論文著者

関連著者

• 原田 高志

  NECシステム実装研究所

• 原田 高志

  Nec

• 半杭 英二

  日本電気株式会社

• 原田 高志

  日本電気株式会社

• 半杭 英二

  NECデバイス評価技術研究所

• 原田 高志

  日本電気株式会社システム実装研究所

• 半杭 英二

  Nec Emc技術センター

• 浅井 秀樹

  静岡大学

• 佐々木 英樹

  Necシステム実装研究所

• 浅井 秀樹

  静岡大学電子科学研究科

• 齊藤 義行

  パナソニック(株)本社r&d部門

• 佐々木 英樹

  Necエレクトロニクス

• 佐々木 英樹

  NEC デバイス評価技術研究所 EMC技術センター

• 伊部 英史

  日立製作所生産技術研究所

• 齊藤 義行

  パナソニック

• 大坂 英樹

  日立製作所

• 高橋 成正

  日本IBM

• 伊部 英史

  日立

• 大坂 英樹

  株式会社日立製作所生産技術研究所

• 大坂 英樹

  株式会社日立製作所 生産技術研究所

• 浅井 秀樹

  静岡大 大学院工学研究科

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著作論文

• EMC回路設計とシステムLSIの実装設計 : 実装サイドからチップ設計への提言(EMC回路設計とシステムLSIの実装設計)
• EMC回路設計とシステムLSIの実装設計 : 実装サイドからチップ設計への提言(EMC回路設計とシステムLSIの実装設計)
• プリント回路基板近傍磁界の時間軸波形計測
• 近傍磁界測定によるアンテナ電流分布の推定とSAR
• 磁界測定によるSAR測定法の精度評価
• 基板近傍の磁界測定による高周波電流分布の推定

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