半杭 英二 | NECデバイス評価技術研究所
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概要
関連著者
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半杭 英二
NECデバイス評価技術研究所
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半杭 英二
Nec Emc技術センター
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橋本 修
青山学院大学
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橋本 修
青山学院大 理工
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西澤 振一郎
青山学院大学
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原田 高志
NECシステム実装研究所
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半杭 英二
日本電気株式会社
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原田 高志
日本電気株式会社
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原田 高志
日本電気株式会社システム実装研究所
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原田 高志
Nec
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橋本 修
青山学院大学大学院理工学研究科
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佐々木 英樹
Necシステム実装研究所
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渡辺 慎也
青山学院大学理工学部
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大塚 健二郎
青山学院大学理工学研究科
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大塚 健二郎
青山学院大学 理工学部 電気電子工学科
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佐々木 英樹
Necエレクトロニクス
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佐々木 英樹
NEC デバイス評価技術研究所 EMC技術センター
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北澤 岳夫
青山学院大学大学院理工学研究科
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中村 龍哉
戸田工業株式会社創造本部
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中村 龍哉
姫路工業大学
著作論文
- FDTD法による半波長ダイポールアンテナの近傍に配置された抵抗皮膜材料のシールド効果の基礎的検討
- プリント回路基板近傍磁界の時間軸波形計測
- 近傍磁界測定によるアンテナ電流分布の推定とSAR
- 磁界測定によるSAR測定法の精度評価
- アンテナ近傍に配置した反射板によるアンテナ放射効率向上手法の検討
- B-1-4 反射板による携帯電話機のアンテナ放射効率向上手法の検討
- 低損失磁性板を配置した携帯電話機の放射効率に関する検討
- 抵抗皮膜シールド材を用いた楕円筒三層人体モデルのSAR低減に関する検討