渡辺 慎也 | 青山学院大学理工学部

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概要

• 同名の論文著者
• 青山学院大学理工学部の論文著者

関連著者

• 橋本 修

  青山学院大学

• 渡辺 慎也

  青山学院大学理工学部

• 橋本 修

  青山学院大 理工

• 渡邊 慎也

  青山学院大学

• 橋本 修

  青山学院大学理工学部電気電子工学科

• 斉藤 寿文

  TDK株式会社 テクニカルセンター

• 栗原 弘

  TDK株式会社 テクニカルセンター

• 栗原 弘

  Tdk株式会社

• 栗原 弘

  Tdk株式会社電波エンジニアリング事業部

• 斉藤 寿文

  TDK(株)マグネティクスBGrp電波エンジニアリングBU

• 斎藤 寿文

  Tdk株式会社

• 栗原 弘

  TDK-EPC株式会社電波エンジニアリングBU

• 斉藤 寿文

  Tdk株式会社

• 柄川 雅樹

  青山学院大学理工学部電気電子工学科

• 柄川 雅樹

  青山学院大学

• 渡邉 恵理子

  青山学院大学 理工学部 電気電子工学科

• 渡辺 恵理子

  青山学院大学

• 渡辺 恵理子

  青山学院大学 理工学部 電気電子工学科

• 笹川 哲広

  青山学院大学理工学部電気電子工学科

• 笹川 哲広

  青山学院大学

• 橋本 修

  青山学院大学 理工学部 電気電子工学科

• 堀尾 和弘

  青山学院大学

• 西澤 振一郎

  青山学院大学

• 鈴木 宏和

  株式会社熊谷組

• 笹川 哲宏

  青山学院大学

• 大場 琴子

  青山学院大学理工学部電気電子工学科

• 牧田 実

  シャープ株式会社

• 鈴木 宏和

  株式会社熊谷組技術研究所

• 半杭 英二

  NECデバイス評価技術研究所

• 大塚 健二郎

  青山学院大学理工学研究科

• 祥雲 勇一

  青山学院大学大学院理工学研究科

• 鈴木 宏和

  (株)熊谷組技術研究所

• 牧田 実

  シャープ電化システム事業本部電化商品開発研究所

• 大塚 健二郎

  青山学院大学 理工学部 電気電子工学科

• 鈴木 宏和

  熊谷組

• 半杭 英二

  Nec Emc技術センター

• 鈴木 宏和

  (株)熊谷組 技術研究所 先端施設研究グループ

• 鈴木 宏和

  東北大学研究生

• 大場 琴子

  青山学院大学 理工学部 電気電子工学科

• 鈴木 宏和

  (株)熊谷組エンジニアリング本部高度生産グループ

• 石橋 孝裕

  青山学院大学 理工学部 電気電子工学科

• 森永 智彦

  青山学院大学

• 鈴木 宏和

  (株)熊谷組

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著作論文

• Cell/B.E.プロセッサを用いた三次元FDTD法の高速化に関する一検討(EMC一般)
• B-4-89 Cell/B.E.プロセッサを用いたFDTD法の高速化に関する基礎検討(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
• 石膏ボードを用いた電波吸収体による無線LAN使用環境改善に関する検討
• 電子レンジ庫内に配置された冷凍物質の解凍ムラ解析 : 熱伝導,対流熱伝達,熱放射,相変化および複素比誘電率変化を考慮した場合(マイクロ波信号発生と計測技術/一般)
• B-4-46 各種スペーサ材料を用いた縦列電波吸収体の温度分布解析(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
• 高電力下における抵抗皮膜を用いた縦列電波吸収体の温度分布に関する検討
• 高電力下における抵抗皮膜を用いた縦列電波吸収体の温度分布に関する検討(マイクロ波フォトニクス技術,一般)
• B-4-31 ピラミッド型電波吸収体の耐電力性能に関する解析的検討(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
• 高電力下におけるピラミッド型電波吸収体の温度分布解析に関する基礎検討
• B-4-47 ピラミッド型電波吸収体の周波数変化に対する温度分布に関する実験的検討(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
• B-4-69 FDTD-HTE法を用いた電子レンジの加熱ムラ解析
• FDTD法による半波長ダイポールアンテナの近傍に配置された抵抗皮膜材料のシールド効果の基礎的検討
• C-1-24 Cell/B.E.プロセッサを用いたFDTD法の高速化に関する基礎検討 その3(C-1.電磁界理論,一般セッション)
• C-2-77 Cell/B.E.プロセッサを用いたFDTD法の高速化に関する基礎検討 その2(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般セッション)
• 高電力下における抵抗皮膜を用いた縦列電波吸収体の温度分布に関する検討(マイクロ波フォトニクス技術,一般)
• B-4-19 対流熱伝達,熱放射,相変化および複素比誘電率変化を考慮した電子レンジ庫内に配置された冷凍物質の解凍ムラ解析(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
• 複素比誘電率の温度変化を考慮した電子レンジ庫内に置かれた被加熱物質の温度分布に関する検討
• B-4-22 複素比誘電率の温度変化を考慮した電子レンジ庫内に置かれた被加熱物質の温度分布解析(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
• 電子レンジ庫内に置かれた被加熱物質の温度分布解析 : 温度に対する誘電率変化を考慮した場合(化合物半導体IC及び超高速・超高周波デバイス/一般)
• 電子レンジ庫内に置かれた被加熱物質の温度分布解析 : 温度に対する誘電率変化を考慮した場合(化合物半導体IC及び超高速・超高周波デバイス/一般)
• C-2-118 損失CRLH線路を用いた左手系電波吸収体に関する基礎検討 その2(C-2.マイクロ波C(マイクロ波・ミリ波応用装置),一般セッション)
• B-4-44 損失CRLH線路を用いた左手系電波吸収体に関する基礎検討(B-4.環境電磁工学,一般セッション)

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