佐々木 英樹 | NEC デバイス評価技術研究所 EMC技術センター

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概要

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• 原田 高志

  NECシステム実装研究所

• 佐々木 英樹

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• 佐々木 英樹

  Necエレクトロニクス

• 佐々木 英樹

  NEC デバイス評価技術研究所 EMC技術センター

• 原田 高志

  Nec

• 半杭 英二

  日本電気株式会社

• 原田 高志

  日本電気株式会社

• 半杭 英二

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• 原田 高志

  日本電気株式会社システム実装研究所

• 原田 高志

  NEC デバイス評価技術研究所 EMC技術センター

• 栗山 敏秀

  NEC デバイス評価技術研究所 EMC技術センター

• 半杭 英二

  Nec Emc技術センター

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著作論文

• コモンモード放射解析のためのLSIのモデル化
• プリント回路基板近傍磁界の時間軸波形計測
• 基板近傍の磁界測定による高周波電流分布の推定

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