山本 茂久 | (株)ルネサステクノロジ解析技術開発部

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• 山本 茂久

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• 小守 純子

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• 鈴村 直仁

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• 小笠原 誠

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• 真壁 一也

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• 村上 英一

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• 高田 佳史

  三菱電機(株)ulsi開発研究所

• 小山 浩

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• 山本 茂久

  三菱電機(株)ULSI開発研究所

• 小守 純子

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• 関根 正廣

  三菱電機(株)ULSI開発研究所

• 山本 茂久

  ルネサステクノロジ北伊丹

• 伊部 英史

  (株)日立製作所中央研究所

• 斉藤 淳

  エルピーダメモリ(株)

• 伊部 英史

  日立製作所生産技術研究所

• 矢作 保夫

  (株)日立製作所 生産技術研究所

• 山口 裕功

  (株)日立製作所 生産技術研究所

• 亀山 英明

  (株)ルネサステクノロジ

• 斉藤 康幸

  (株)ルネサステクノロジ

• 秋岡 隆志

  (株)ルネサステクノロジ

• 日高 光守

  エルピーダメモリ(株)

• 伊部 英史

  日立 生産技研

• 矢作 保夫

  日立製作所生産技術研究所1

• 山口 裕功

  日立製作所生産技術研究所1

• 亀山 英明

  ルネサステクノロジ武蔵

• 秋岡 隆志

  ルネサステクノロジ武蔵

• 関根 正廣

  三菱電機(株)

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著作論文

• ViaホールEM寿命のテスト構造依存性
• Cuイオンドリフトに起因したCu配線間TDDB劣化モデル(半導体表面・界面制御・評価と電子デバイスの信頼性)
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• 半導体デバイスの宇宙線中性子エラーの現状と動向 : メモリデバイスからロジックデバイス評価へ(耐過度故障,SWoPP2006)

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