木本 恒暢 | 京都大学

スポンサーリンク

概要

• 木本 恒暢の詳細を見る
• 同名の論文著者
• 京都大学の論文著者

関連著者

• 木本 恒暢

  京都大学工学部電気電子工学科

• 木本 恒暢

  京都大学

• 須田 淳

  京都大学工学研究科電子工学専攻

• 木本 恒暢

  京都大学大学院工学研究科電子工学専攻

• 須田 淳

  京都大学

• 松井 敏明

  独立行政法人情報通信研究機構先端ictデバイスグループ

• 三村 高志

  (株)富士通研究所

• 東脇 正高

  情報通信研究機構

• 松井 敏明

  情報通信研究機構

• 松井 敏明

  情報通信研究機構ミリ波デバイスグループ

• 小野島 紀夫

  情報通信研究機構ミリ波デバイスグループ

• 小野島 紀夫

  NICT

• 東脇 正高

  カリフォルニア大 サンタバーバラ校

• 小野島 紀夫

  情報通信研究機構

• 木本 恒暢

  京大

• 東脇 正高

  独立行政法人情報通信研究機構

• 三村 高志

  情報通信研究機構

• 三村 高志

  富士通研究所

• 松波 弘之

  京都大学大学院工学研究科電子物性工学専攻

• 渡辺 直樹

  京都大学

• 伊藤 利道

  大阪大学工学部電気工学科

• 宮本 直

  京都大学

• 木本 恒暢

  京都大学工学研究科

• 伊藤 利道

  大阪大学

• 松波 弘之

  京都大学 工学研究科

• 木本 恒暢

  京都大学工学研究科電子工学専攻

• 木本 恒暢

  京都大学大学院工学研究科

もっと見る 閉じる

著作論文

• SiC結晶多形のステップ制御成長とステップダイナミクス : 招待講演
• 光電気化学エッチングにより作製した静電駆動単結晶SiCブリッジ構造
• SiCへの高エネルギーAl, Bイオン注入による深い接合の形成
• XPSおよびC-V測定によるCat-CVD SiN保護膜を有するAlGaN/GaN HFETの表面バリアハイト評価(窒化物及び混晶半導体デバイス)
• XPSおよびC-V測定によるCat-CVD SiN保護膜を有するAlGaN/GaN HFETの表面バリアハイト評価(窒化物及び混晶半導体デバイス)
• XPSおよびC-V測定によるCat-CVD SiN保護膜を有するAlGaN/GaN HFETの表面バリアハイト評価(窒化物及び混晶半導体デバイス)
• XPSおよびC-V測定による Cat-CVD SiN 保護膜を有するAlGaN/GaN HFETの表面バリアハイト評価
• XPSおよびC-V測定による Cat-CVD SiN 保護膜を有するAlGaN/GaN HFETの表面バリアハイト評価
• ワイドバンドギャップ半導体(2) : SiC/ダイヤモンド(第13回結晶成長国際会議(ICCG-13/ICVGE-11))

スポンサーリンク