走査SQUID顕微鏡による酸化物超伝導薄膜中の磁束・電流・欠陥の同時評価

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概要

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• A method to characterize superconducting thin films by using scanning SQUID microscopy (SSM) is demonstrated. Magnetic field distribution on a film surface with a square defect was calculated and experimental data is also presented. In this paper, principles to observe at a time quantized magnetic flux, shielding current, and defects by SSM is presented.

• The Institute of Electrical Engineers of Japanの論文

著者

• 毛塚 博史

  東京工科大

• 内山 哲治

  宮城教育大

• 遠藤 和弘

  金沢工業大学

• 有沢 俊一

  物質・材料研究機構

• 羽多野 毅

  物質・材料研究機構

• 井口 家成

  物質・材料研究機構

• 尹 炅成

  物質・材料研究機構

• 内山 哲治

  宮城教育大学

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