遅延観測方式によるチップ内電源ノイズの観測(EMC一般)
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概要
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給電系設計のためのチップ内電源ノイズ評価手法として,インバータ回路の電位変動を出力波形の遅延変動量に変換し外部でこれを観測するノイズ波形評価手法を開発した.本手法では、段数切替可能な多段インバータ回路を用いることで,インバータ段数変更に伴なう電圧分解能と観測可能な周波数帯域のトレードオフを解消した.90nm CMOSテクノロジーを用いて本測定手法に基づくテストチップを開発し,50段インバータ回路では320μm^2の小サイズながら電圧分解能1mV,時間分解能20psを実現し,周波数160MHzのチップ-パッケージ共振に由来するチップ内部の電源ノイズ波形の観測に成功した.
- 2009-11-13
著者
-
植松 裕
株式会社日立製作所中央研究所
-
大坂 英樹
株式会社日立製作所中央研究所
-
齊藤 達也
(株)日立製作所中央研究所
-
齋藤 達也
(株)日立製作所中央研究所
-
柳生 正義
(株)日立製作所中央研究所
-
鈴木 英一
株式会社日立製作所中央研究所
-
柳生 正義
株式会社日立製作所中央研究所
-
齊藤 達也
株式会社日立製作所中央研究所
-
鈴木 英一
(株)日立製作所中央研究所
-
斎藤 達也
日立中研
-
齋藤 達也
(株)日立製作所 中央研究所
-
大坂 英樹
日立製作所
-
植松 裕
株式会社日立製作所生産技術研究所
-
大坂 英樹
株式会社日立製作所生産技術研究所
-
大坂 英樹
株式会社日立製作所 生産技術研究所
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